网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:
题目内容
(请给出正确答案)
红外测温对于磁场和漏磁引起的过热可依据()致热型设备的判据进行处理。
电流$;$电压$;$功率$;$涡流
参考答案
参考解析
解析:
更多 “红外测温对于磁场和漏磁引起的过热可依据()致热型设备的判据进行处理。电流$;$电压$;$功率$;$涡流” 相关考题
考题
红外测温相对温差判断法,主要适用于电流致热型设备。特别是对小负荷电流致热型设备,采用相对温差判断法可降低小负荷缺陷的漏判率。对电流致热型设备,发热点温升值小于15K时,不宜采用相对温差判断法。
考题
《红外热像检测细则》中规定,当缺陷是由两种或两种以上因素引起的,应综合判断缺陷性质。对于()引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。(A)磁场 (B)剩磁 (C)漏磁 (D)偏磁
考题
红外热像检测中,对于严重缺陷的相关描述,正确的是()。A、指设备存在过热,程度较重,温度场分布梯度较大,温差较大的缺陷B、这类缺陷应立即安排处理C、对电流致热型设备,应采取必要的措施,如加强检测等,必要时降低负荷电流D、电压致热型设备的缺陷一般定为严重及以上的缺陷
考题
红外测温时,()致热型设备最好在高峰负荷下进行检测。
热门标签
最新试卷