考题
对于磁场和漏磁引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。( )
考题
依据红外热像检测细则管理规定，进行电力设备红外测温缺陷判别时，表面温度判断法主要适用于（ ）的设备。 电流致热型 $;$电磁效应引起发热
$;$电压致热型 $;$ 综合致热型
考题
综合致热型设备发热的原因可能包括电流效应、电磁效应、电压效应。
考题
红外热像检测表面温度判断法：主要适用于（）引起发热的设备。(A)电流致热型 (B)电压致热型 (C)电感效应 (D)电磁效应
考题
红外检测表面温度判断法主要适用于电流致热型和( )效应引起发热的设备。(A)电压 (B)电磁 (C)涡流 (D)环流
考题
红外热像检测中，图像特征判断法主要适用于（）电流致热型的设备$;$电磁效应引起发热的设备$;$综合致热型设备$;$电压致热型设备
考题
红外测温图像特征判断法，主要适用于（）致热型设备。电压$;$电流$;$电磁$;$电场
考题
红外检测表面温度判断法主要适用于电流致热型和电压效应引起发热的设备。
考题
红外热像检测表面温度判断法：主要适用于( )引起发热的设备。电流致热型$;$电压致热型$;$电感效应$;$电磁效应
考题
红外检测表面温度判断法主要适用于电流致热型和（ ）效应引起发热的设备。电压 $;$电磁 $;$涡流 $;$环流
考题
红外热像检测温度相对温差判断法主要适用于( )设备。电流致热型$;$电压致热型$;$电磁致热型$;$电容致热型
考题
《红外热像检测细则》中规定，当缺陷是由两种或两种以上因素引起的，应综合判断缺陷性质。对于（）引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。(A)磁场 (B)剩磁 (C)漏磁 (D)偏磁
考题
对于磁场和漏磁引起的过热可根据（ ）设备的判据进行处理。电流致热型 $;$电磁效应 $;$电压致热型 $;$综合致热型
考题
红外热成像检测发现缺陷时，若是由两种或两种以上因素引起的，应综合判断缺陷性质。对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据进行处理。
考题
红外测温图像特征判断法：主要适用于（ ）。电流致热型$; $电磁效应$; $电压致热型$; $表面放电
考题
红外热像检测中，图像特征判断法主要适用于( )(A)电流致热型的设备 (B)电磁效应引起发热的设备 (C)综合致热型设备 (D)电压致热型设备
考题
红外测温图像特征判断法，主要适用于（ ）设备。电压致热型$;$电流致热型$;$电磁效应$;$电动力效应
考题
红外热像检测温度相对温差判断法主要适用于( )设备。(A)电流致热型 (B)电压致热型 (C)电磁致热型 (D)电容致热型
考题
红外测温对于磁场和漏磁引起的过热可依据（）致热型设备的判据进行处理。电流$;$电压$;$功率$;$涡流
考题
依据红外热像检测细则管理规定，进行电力设备红外测温缺陷判别时，表面温度判断法主要适用于（）的设备。(A)电流致热型 (B)电磁效应引起发热 (C)电压致热型 (D)综合致热型
考题
综合致热型设备发热的原因可能包括（）。A、电流效应B、电磁效应C、电压效应D、热传导作用
考题
对（）引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。A、电场B、磁场C、剩磁D、漏磁
考题
红外热像检测表面温度判断法主要适用于（）引起发热的设备。A、电流致热型B、电磁效应C、电压致热型D、综合致热型
考题
图像特征判断法：主要适用于（）致热型设备。A、电压B、电流C、环流D、电磁
考题
红外热像检测图像特征判断法主要适用于（）致热型设备。A、电流致热型B、电磁效应C、电压致热型D、综合致热型
考题
红外热像检测表面温度判断法主要适用于电压致热型；综合致热型引起发热的设备。
考题
电流致热型设备反映设备的外部缺陷，电压致热型设备反映设备的内部缺陷。