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LKD1-T车站列控中心设备中配置的LEU为双()结构。


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考题 在用BEPT向LKD1-T型车站列控中心LEU数据写入时,提示“PROGRAMMINGSUCCESSFUL”说明()。 A、写入失败B、写入成功C、正在写入D、系统自检通过

考题 中继站列控中心LEU设备配置在()中,车站列控中心的LEU设备配置在列控综合柜或LEU柜内。

考题 当LKD1-T车站列控中心双CPU比较不一致时系统(),双机切换。

考题 LKD1-T型车站列控中心设备主要适用的范围是什么?

考题 车站列控中心系统设备、LEU和列控车载设备大修(更改)周期为()年。

考题 车站列控中心系统设备、LEU和列控车载设备大修(更改)周期为()年。A、5B、10C、15D、20

考题 LKD1-T车站列控中心按“()”原则设计。

考题 车站列控中心系统设备,LEU和车载设备的大修周期为10年

考题 列控中心系统配置的LEU为双冗余系统,即2台LEU同时使用

考题 当LKD1-T车站列控中心与LEU通信中断时自动由LEU向()同时发送最限制的接车进路报文。

考题 为了提高与LEU.计算机联锁.CTC(TDCS)系统通信通道的可靠性,LKD1-T车站列控中心与上述系统均采用双()连接。

考题 车站列控中心系统设备、LEU和列控车载设备大修(更改)周期为15年。

考题 LKD1-T型车站列控中心设备响应时间不超过1s。

考题 在用BEPT向LKD1-T型车站列控中心LEU数据写入直至结束,大约需要()。A、3minB、5minC、8minD、10min

考题 列控地面车站列控中心,轨旁电子单元LEU和有源(无源)应答器等设备组成。

考题 LKD1-T车站列控中心向()系统发送的信息包括列控中心状态、LEU、应答器状态。

考题 判断题车站列控中心系统设备,LEU和车载设备的大修周期为10年A 对B 错

考题 单选题车站列控中心系统设备、LEU和列控车载设备大修(更改)周期为()年。A 5B 10C 15D 20

考题 问答题LKD1-T型车站列控中心设备主要适用的范围是什么?

考题 填空题LKD1-T车站列控中心设备中配置的LEU为双()结构。

考题 填空题当LKD1-T车站列控中心与LEU通信中断时自动由LEU向()同时发送最限制的接车进路报文。

考题 判断题列控中心系统配置的LEU为双冗余系统,即2台LEU同时使用A 对B 错

考题 填空题车站列控中心系统设备、LEU和列控车载设备大修(更改)周期为()年。

考题 填空题中继站列控中心LEU设备配置在()中,车站列控中心的LEU设备配置在列控综合柜或LEU柜内。

考题 填空题LKD1-T车站列控中心向()系统发送的信息包括列控中心状态、LEU、应答器状态。

考题 填空题为了提高与LEU.计算机联锁.CTC(TDCS)系统通信通道的可靠性,LKD1-T车站列控中心与上述系统均采用双()连接。

考题 判断题车站列控中心系统设备、LEU和列控车载设备大修(更改)周期为15年。A 对B 错