考题
当量法适用于()。A.大于声束截面的缺陷B.小于声束截面的缺陷C.水平裂纹和斜裂纹D.纵向裂纹
考题
用计算法求解缺陷当量大小,通常适用于声程()的缺陷。A.>3NB.1ND.>1.67N
用计算法求解缺陷当量大小，通常适用于声程()的缺陷。A.>3NB.C.>1ND.>1.67N
考题
用计算法求解缺陷当量通常适用于声程()的缺陷。
考题
在评定缺陷大小时通常采用当量法，现发现一个缺陷大小为Φ2mm平底孔当量，该缺陷的实际大小（）A、大于Φ2mm平底孔B、小于Φ2mm平底孔C、等于Φ2mm平底孔
考题
表面波探伤时，仪器荧光屏屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（）A、缺陷深度B、缺陷至探头前沿距离C、缺陷声程D、以上都可以
考题
锻件检测时，为什么由缺陷引起底波降低量的质量等级评定，仅适用于声程大于近场 区长度的缺陷？
考题
在通用AVG曲线上，可直接查得缺陷的实际声程和当量尺寸。
考题
按照NB/T47013.3-2015标准规定，由缺陷引起的底波降低量仅适用于声程大于探头近场长的缺陷。
考题
对于小于声束截面的缺陷可用（）评定其大小。A、当量法B、缺陷回波高度法C、底面回波高度法D、延伸度定量评定法
考题
用于缺陷定量的当量法有（）当量计算法、当量AVG曲线等。
考题
用计算法求解缺陷当量，通常适用的声程有什么要求？
考题
直探头垂直入射时发现工件150mm声程处一缺陷回波，比试块200m声程处φ2平底孔的孔波高10dB，求缺陷的当量平底孔直径。
考题
表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（）。A、缺陷深度B、缺陷至探头前沿距离C、缺陷声程D、以上都可以
考题
利用缺陷当量计算法定量时，其声程应大于（）探头近场长度，结果才较准确。A、1.5倍B、2倍C、2.5倍D、3倍
考题
缺陷回波高度比φ2平底孔高24dB，假设φ2平底孔的声程为200mm，而该缺陷声程处于100mm，其缺陷为φ4当量的平底孔。
考题
当量法适用于（）A、大于声束截面的缺陷B、小于声束截面的缺陷C、水平裂纹和斜裂纹D、纵向裂纹
考题
当量法制只适用于测量线度远小于声束截面的缺陷。
考题
判断题在通用AVG曲线上，可直接查得缺陷的实际声程和当量尺寸。A
对B
错
考题
单选题厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（）A
两个缺陷当量相同B
材质衰减大的锻件中缺陷当量小C
材质衰减小的锻件中缺陷当量小D
以上都不对
考题
问答题用计算法求解缺陷当量，通常适用的声程有什么要求？
考题
判断题当量法制只适用于测量线度远小于声束截面的缺陷。A
对B
错
考题
单选题利用缺陷当量计算法定量时，其声程应大于（）探头近场长度，结果才较准确。A
1.5倍B
2倍C
2.5倍D
3倍
考题
单选题用计算法求解缺陷当量大小通常适用于声程（）的缺陷。A
3NB
3NC
1N
考题
单选题当量法适用于（）A
大于声束截面的缺陷B
小于声束截面的缺陷C
水平裂纹和斜裂纹D
纵向裂纹
考题
问答题直探头垂直入射时发现工件150mm声程处一缺陷回波，比试块200m声程处φ2平底孔的孔波高10dB，求缺陷的当量平底孔直径。
考题
单选题在评定缺陷大小时通常采用当量法，现发现一个缺陷大小为Φ2mm平底孔当量，该缺陷的实际大小（）A
大于Φ2mm平底孔B
小于Φ2mm平底孔C
等于Φ2mm平底孔
考题
判断题缺陷回波高度比φ2平底孔高24dB，假设φ2平底孔的声程为200mm，而该缺陷声程处于100mm，其缺陷为φ4当量的平底孔。A
对B
错