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tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）。

  • A、良好绝缘
  • B、绝缘中存在气隙
  • C、绝缘受潮

参考答案

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考题 当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。
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考题 当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。
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考题 判断题对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。A 对B 错
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考题 判断题当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。A 对B 错
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