考题
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷
B.与探测面倾斜的缺陷
C.垂直于探测面的缺陷
D.不能用斜探头检测的缺陷
考题
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷
考题
探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷，应采用的方法是（）A、提高探测频率B、用多种角度探头探测C、修磨探伤面D、以上都可以
考题
与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是（）A、单斜探头法B、单直探头法C、双斜探头前后串列法D、分割式双直探头法
考题
检测与焊接接头垂直或成一定角度的缺陷，最好采用（） 。A、 直探头B、 双晶探头C、 横波斜探头D、 聚焦探头
考题
用串联式探头进行操作扫查，主要用来检测（）的缺陷。A、平行于探测面B、与探测面倾斜C、垂直于探测面
考题
直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面（）的缺陷。
考题
直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于发现与探测面（）的缺陷。A、平行B、垂直C、倾斜D、呈90°
考题
斜探头通常是经过（）来实现横波探伤的。主要用于探测与探测面（）或（）的缺陷。
考题
直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。
考题
斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。
考题
为探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷，应采取的方法是（）A、提高探测频率B、用多种角度探头探测C、修磨探伤面D、以上都可以
考题
斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。A、平行B、垂直C、倾斜D、一致
考题
斜探头通常是经过（）来实现横波探伤的 ，主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。
考题
填空题直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面（）的缺陷。
考题
判断题直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。A
对B
错
考题
填空题斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。
考题
填空题斜探头通常是经过（）来实现横波探伤的。主要用于探测与探测面（）或（）的缺陷。
考题
填空题斜探头通常是经过（）来实现横波探伤的 ，主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。
考题
单选题探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷，应采用的方法是（）A
提高探测频率B
用多种角度探头探测C
修磨探伤面D
以上都可以
考题
判断题斜探头主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。A
对B
错
考题
单选题与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（）A
单斜探头法B
单直探头法C
双斜探头前后串列法D
分割式双直探头法
考题
单选题直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于发现与探测面（）的缺陷。A
平行B
垂直C
倾斜D
呈90°
考题
单选题焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A
平行于探测面的缺陷B
与探测面倾斜的缺陷C
垂直于探测面的缺陷D
不能用斜探头检测的缺陷
考题
单选题检测与焊接接头垂直或成一定角度的缺陷，最好采用（） 。A
直探头B
双晶探头C
横波斜探头D
聚焦探头
考题
单选题斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。A
平行B
垂直C
倾斜D
一致