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晶体管特性图示仪的阶梯作用开关置于“重复”位,阶梯作用也置于“重复”位,阶梯信号被重复地加到被测管基极,通常作为对()测试用


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考题 用晶体管特性图示仪测3DG12的共射极输出特性曲线时,集电极扫描信号和基极阶梯信号极性应分别置于()位置。A.—,—B.+,+C.+,—D.—,+

考题 使用晶体管特性图示仪测试晶体管各种极限参数时,一般将“阶梯作用开关”置于()位置。A、关B、单簇C、重复D、任意

考题 用JT-1型晶体管特性图示仪来测量PNP型三极管时,集电极反妙电压极性开关应置于()位。A、+B、-C、任意D、以上都不对

考题 使用JT-1型晶体管图示仪,当阶梯选择开关置于“毫安/级”位置时,阶梯信号不会通过串联电阻,因此没有必要选择串联电阻的大小。

考题 晶体管特性图示仪的阶梯作用开关置于“重复”位,阶梯作用也置于“重复”位,阶梯信号被重复地加到被测管基极,通常作为对()测试用。A、特性曲线组B、极限参数C、IceoD、βUceo

考题 JT一1型晶体管特性图示仪面板上的"级"旋钮是用来调节阶梯信号的阶数的。

考题 晶体管图示仪使用时,被测晶体管接入测试台之前,应先将峰值电压调节旋钮逆时针旋至零位,将基极阶梯信号选择开关调到最大。

考题 用晶体管图示仪观察二极管正向特性时,就将X轴作用开关置于集电极电压,Y轴作用开关置于()。

考题 用晶体管图示仪观察显示NPN型三极管的输出特性时,基极阶梯信号的极性开关应置于“+”,集电极扫描电压极性开关应置于“-”。

考题 用晶体管图示仪观察共发射极放大电路的输入特性时,X轴作用开关应置于基极电压,Y轴作用开关置于基极电流或基极电压。

考题 使用三极管特性图示仪测量三极管的各种极限参数时,一般将阶梯作用开关置于()位置。A、关B、单簇C、重复D、任意

考题 操作晶体管特性图示仪时,应特别注意功耗电压的阶梯选择及()选择开关。

考题 晶体管特性图示仪的阶梯信号不稳定的故障现象通常有两种,一种是阶梯“级/族”数目的跳变,另一种是()数值的缓慢变化。A、阶梯“V/级”B、阶梯“SL/级”C、阶梯“级/V”D、阶梯“I/级”

考题 晶体管特性图示仪阶梯信号不稳定的故障现象通常有两种,一种是阶梯“级/族”数目的跳变,另一种是()数值的缓慢变化。A、阶梯“V/级”B、阶梯“SL/级”C、阶梯“级/V”D、阶梯“I/级”

考题 晶体管特性图示仪内部电路产生的主要波形是()。A、阶梯波、锯齿波B、锯齿波、正弦半波C、阶梯波、正弦半波D、阶梯波、正弦波

考题 在使用JT-1图示仪测试大功率晶体管极限参数时,阶梯作用开关应选择在()位。A、重复B、关断C、单族D、任意

考题 晶体管特性图示仪的阶梯作用开关置于“单族”时,能显示稳定的输出特性曲线组。

考题 晶体管特性图示仪的阶梯作用开关置于“重复”位,阶梯电流作用也置于“重复”位,阶梯信号被重复的加到被测管基板,通常作为对()测试用。A、特性曲线簇B、极限参数C、IceoD、BUceo

考题 在使用JT—1图示仪测试大功率晶体管极限参数时,阶梯作用开关应选用在()位。

考题 用晶体管图示仪观察共发射极放大电路的输入特性时,()。A、X轴作用开关置于基极电压,Y轴作用开关置于集电极电流B、X轴作用开关置于集电极电压,Y轴作用开关置于集电极电流C、X轴作用开关置于集电极电压,Y轴作用开关置于基极电压D、X轴作用开关置于基极电压,Y轴作用开关置于基极电流

考题 操作晶体管图示仪时,应特别注意功耗电阻、阶梯选择及峰值范围选择开关置位,它们是导致管子损坏的主要原因。

考题 用晶体管图示仪观察三极管正向特性时,应将()。A、X轴作用开关置于集电极电压,Y轴作用开关置于集电极电流B、X轴作用开关置于集电极电压,Y轴作用开关置于基极电流C、X轴作用开关置于基极电压,Y轴作用开关置于基极电流D、X轴作用开关置于基极电压,Y轴作用开关置于集电极电流

考题 使用JT-1型晶体管特性图示仪每项测试完毕,应将(),然后关闭电源.A、“峰值电压”置于最小位置B、“阶梯电流和电压”置于最小位置C、“峰值电压”和“阶梯电流和电压”均置于最小位置D、“峰值电压”和“阶梯电流和电压”均置于最大位置

考题 操作晶体管图示仪时,特别注意功耗电压、阶梯选择及峰位范围选择开关位置,他们是导致损坏的主要原因。

考题 用晶体管图示仪观察显示NPN型三极管的输出特性时,基极阶梯信号的极性开关应置于“+”,集电极扫描电压极性应置于“-”。

考题 用晶体管图示仪观察共发射极放大电路的输入特性时,X轴作用开关应置于基极电压,Y轴作用开关置于基极电流或基极源电压。

考题 用JT-1型晶体管特性图示仪来测量PNP型三极管时,阶梯信号极性开关应置于()位。A、+B、-C、任意D、以上都不对