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在保持状态下直流热敏探头5分钟漂移超过()需要更换

  • A、100mV
  • B、200mV
  • C、250mV
  • D、150mV

参考答案

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考题 THDS-BS系统外探探头采用热敏直流探头。

考题 热敏探头输出始终为+10V或者-10V,下列处理方法错误的是()A、更换热敏探头B、更换校零板C、更换外探功放板D、检查探头电缆连接情况

考题 热敏探头指探头采用热敏电阻元件,热敏探头按放大电路的类型可分为热敏电阻直流探头、热敏电阻交流探头、()。A、锑镉汞直流探头B、锑镉汞交流探头C、锑镉汞调制探头D、热敏电阻调制探头

考题 THDS-BS系统外探探头采用()。A、光子调制探头B、光子直流探头C、热敏调制探头D、热敏直流探头

考题 (康拓)THDS-B系统“探头噪声测量”菜单可以检测光子探头和热敏探头的噪声,并且还可以检测光子探头的漂移。

考题 THDS-A(哈科所)探测站的轴温传感器包括()。A、热敏探头和交流探头B、热敏探头和光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头

考题 THDS-A探测系统直流探头的大修标准是()A、直接更换B、探头在保持状态下噪声Vp-p<100mVC、5分钟漂移200mVD、探头标定:误差在±1℃以内

考题 THDS-A探测系统中探头按测温元件不同划分为()A、热敏探头和光子探头B、调制探头和光子探头C、热敏探头和直流探头D、调制探头和直流探头

考题 在保持状态下直流热敏探头噪声超过()需要更换。A、100mVB、200mVC、250mVD、150mV

考题 红外探头按放大电路的类型划分为()和直流探头两种A、调制探头;B、热敏探头;C、光子探头;D、直流探头

考题 热敏探头在保持状态下噪声应小于()mVVp-p,超标换修。

考题 热敏探头在校零状态时,探头输出不为零,下列处理方法错误的是()A、左右侧热敏探头互换,如果故障也互换,则需要更换探头B、左右侧热敏探头互换,若故障不移动,需检查探头电缆C、左右侧热敏探头互换,若故障不移动,需检查校零板D、左右侧热敏探头互换,若故障不移动,需检查温控板

考题 (哈科)THDS-B系统衡柳线使用的外探探头采用()。A、光子调制探头B、光子直流探头C、热敏调制探头D、热敏直流探头

考题 (康拓)THDS-B系统更换热敏探头需要重新进行系统标定。

考题 (哈科)THDS-B系统内探探头采用热敏直流探头。

考题 THDS-A(哈科所)系统,热敏探头的5分钟漂移电压峰峰超过150毫伏时应更换探头。

考题 单选题(哈科)THDS-B系统衡柳线使用的外探探头采用()。A 光子调制探头B 光子直流探头C 热敏调制探头D 热敏直流探头

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,热敏探头的5分钟漂移电压峰峰超过150毫伏时应更换探头。A 对B 错

考题 单选题THDS-BS系统外探探头采用()。A 光子调制探头B 光子直流探头C 热敏调制探头D 热敏直流探头

考题 单选题在保持状态下直流热敏探头噪声超过()需要更换。A 100mVB 200mVC 250mVD 150mV

考题 单选题在保持状态下直流热敏探头5分钟漂移超过()需要更换A 100mVB 200mVC 250mVD 150mV

考题 单选题热敏探头指探头采用热敏电阻元件,热敏探头按放大电路的类型可分为热敏电阻直流探头、热敏电阻交流探头、()。A 锑镉汞直流探头B 锑镉汞交流探头C 锑镉汞调制探头D 热敏电阻调制探头

考题 单选题热敏探头在校零状态时,探头输出不为零,下列处理方法错误的是()A 左右侧热敏探头互换,如果故障也互换,则需要更换探头B 左右侧热敏探头互换,若故障不移动,需检查探头电缆C 左右侧热敏探头互换,若故障不移动,需检查校零板D 左右侧热敏探头互换,若故障不移动,需检查温控板

考题 单选题THDS-A探测系统直流探头的大修标准是()A 直接更换B 探头在保持状态下噪声Vp-p<100mVC 5分钟漂移200mVD 探头标定:误差在±1℃以内

考题 单选题红外探头按放大电路的类型划分为()和直流探头两种A 调制探头;B 热敏探头;C 光子探头;D 直流探头

考题 单选题THDS-A探测系统中探头按测温元件不同划分为()A 热敏探头和光子探头B 调制探头和光子探头C 热敏探头和直流探头D 调制探头和直流探头

考题 填空题热敏探头在保持状态下噪声应小于()mVVp-p,超标换修。