考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的。
考题
THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器包括（）。A、热敏探头和交流探头B、热敏探头和光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。
考题
THDS-A（哈科所）探测站的探头漂移检测过程需要（）分钟。A、3B、5C、8D、10
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。
考题
THDS-A（哈科所）探测站控制航空插座包含（）信号。A、探头电压B、热靶加热信号C、制冷电压D、元温输出信号
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。
考题
THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
考题
THDS-A（哈科所）探测站探头电缆包含（）信号。A、热靶加热信号B、保护门电压C、热靶电机电压D、校零电压
考题
THDS-A（哈科所）系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号。
考题
THDS-A（哈科所）探测站的热敏直流探头静态电压值约为1V，轴温与板温相同时探头输出电压值约为（）。A、1VB、-10VC、0VD、都有可能
考题
THDS-A（哈科所）系统如果报热敏探头板温故障，现象是板温与正常值偏离较大，可能是温度转换盒故障。
考题
（哈科）THDS-B系统内探探头采用热敏直流探头。
考题
THDS-A（哈科所）探测站中光子探头应满足以下（）技术要求。A、噪声电压＜80mVB、漂移＜150mVC、噪声电压＜100mVD、漂移＜200mVE、噪声电压＜150mV
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，热敏探头的5分钟漂移电压峰峰超过150毫伏时应更换探头。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统如果报热敏探头板温故障，现象是板温与正常值偏离较大，可能是温度转换盒故障。A
对B
错
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站中光子探头应满足以下（）技术要求。A噪声电压＜80mVB漂移＜150mVC噪声电压＜100mVD漂移＜200mVE噪声电压＜150mV
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器包括（）。A
热敏探头和交流探头B
热敏探头和光子探头C
直流探头和交流探头D
光子探头和交流探头
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器有热敏探头和光子探头两种。A
对B
错
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站的热敏直流探头静态电压值约为1V，轴温与板温相同时探头输出电压值约为（）。A
1VB
-10VC
0VD
都有可能
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站标准配置下探头位置是（）。A
内光子、外热敏B
内热敏、外光子C
双热敏D
双光子
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站的探头漂移检测过程需要（）分钟。A
3B
5C
8D
10
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。A
对B
错