考题
用工件底面调整探伤灵敏度( )。A、容易确定缺陷的位置B、定量较准确C、可以不考虑工件表面的耦合补偿D、杂波干扰少
考题
用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时，下列哪种说法正确（）A、可以不考虑探伤面的声能损失补偿B、可以不考虑材质衰减的补偿C、可以不使用校正试块D、以上都是
考题
以工件底面作为灵敏度校正基准时可以（）。A、不考虑探伤面耦合差的补偿B、不考虑材质衰减的补偿C、不必使用试块D、以上都对
考题
用2，5，8，18和31MeV这些高能X射线透照大厚度工件时，可以达到的探伤灵敏度几乎相同。
考题
被检工件的形状、厚度有差异时，可以采用哪些补偿方法进行射线照相？（）A、液体补偿法B、糊膏补偿法C、固体补偿法D、以上都可以
考题
考虑检测灵敏度补偿的理由是（）。A、 被检工件厚度太大B、 工件底面与检测面不平行C、 耦合剂有较大声能损耗D、 工件与试块材质、表面光洁度有差异
考题
在超声波检测法中，用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时可以：（）A、不考虑探伤面的声能损失补偿B、不考虑材质衰减的补偿C、不使用校正试块D、以上都是
考题
超声探伤，被检工件厚度大，应考虑灵敏度补偿。
考题
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。
考题
耦合剂的主要作用是（）A、补偿被探件表面粗糙B、补偿因曲面引起的灵敏度下降C、确保探头与工件声能的传递D、补偿工件因晶粒度大引起的散射衰减
考题
对于大型工件的探伤，探伤仪要灵敏度高、信噪比高、功率大。
考题
接触法超声波探伤，用底波高度法调整灵敏度时可不考虑耦合差，但是对厚工件深部位的缺陷应进行（）补偿。
考题
超声检测中考虑灵敏度补偿可能的理由是（）。A、被检工件厚度太大B、工件底面与探测面不平行C、耦合剂有较大声能损耗D、曲面工件E、工件与试块材质、表面状态不同
考题
对于一定的射线，被检工件厚度范围大，对比度大时，应采用修正方法是提高（）放置（）和延长（）。
考题
在平板对接焊缝超声波探伤时，一般斜探头拆射角根据工件厚度选择，原则上薄工件选用大拆射角，原工件则采用小拆射角。
考题
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。A、直射B、扫查C、反射D、折射
考题
单选题用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时，下列哪种说法正确（）A
可以不考虑探伤面的声能损失补偿B
可以不考虑材质衰减的补偿C
可以不使用校正试块D
以上都是
考题
多选题在超声波检测法中，用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时，可以（）。A不考虑探伤面的声能损失补偿B不考虑材质衰减的补偿C不使用校正试块D以上都不行
考题
单选题在超声波检测法中，用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时可以：（）A
不考虑探伤面的声能损失补偿B
不考虑材质衰减的补偿C
不使用校正试块D
以上都是
考题
单选题以工件底面作为灵敏度校正基准时可以（）。A
不考虑探伤面耦合差的补偿B
不考虑材质衰减的补偿C
不必使用试块D
以上都对
考题
判断题在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。A
对B
错
考题
单选题考虑检测灵敏度补偿的理由是（）。A
被检工件厚度太大B
工件底面与检测面不平行C
耦合剂有较大声能损耗D
工件与试块材质、表面光洁度有差异
考题
单选题考虑检测灵敏度补偿的理由是：（）A
被检工件厚度太大B
耦合剂有较大声能损耗C
工件与试块材质、表面粗糙度有差异D
工件底面与检测面不平行
考题
多选题超声检测中考虑灵敏度补偿可能的理由是（）。A被检工件厚度太大B工件底面与探测面不平行C耦合剂有较大声能损耗D曲面工件E工件与试块材质、表面状态不同
考题
填空题接触法超声波探伤，用底波高度法调整灵敏度时可不考虑耦合差，但是对厚工件深部位的缺陷应进行（）补偿。
考题
填空题对于一定的射线，被检工件厚度范围大，对比度大时，应采用修正方法是提高（）放置（）和延长（）。
考题
单选题用工件底面调整探伤灵敏度（）A
容易确定缺陷的位置B
定量较准确C
可以不考虑工件表面的耦合补偿D
杂波干扰少