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在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。

  • A、直射
  • B、扫查
  • C、反射
  • D、折射

参考答案

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考题 在进行超声波检测时，检测面上探头与试件的相对运动称为扫查。
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考题 超声波探伤时，怎样选择工件探测面？
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考题 接触法超声波探伤，探测近距离（或小直径）工件时，为获得较大声场范围，可选用（）直径晶片的探头。
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考题 将两个探头分别放在被检工件相对的表面上，其中一个探头发射另一个探头接收，通过观察声波穿透试件后的声压变化情况进行探伤的方法，称为（）。A、接触法B、表面波法C、穿透法D、莱姆波法
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考题 检测线圈与被检工件相对静止的探伤叫做（）
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考题 问答题在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
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考题 单选题在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。A 直射B 扫查C 反射D 折射
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考题 判断题在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。A 对B 错
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考题 单选题将两个探头分别放在被检工件相对的表面上，其中一个探头发射另一个探头接收，通过观察声波穿透试件后的声压变化情况进行探伤的方法，称为（）。A 接触法B 表面波法C 穿透法D 莱姆波法
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考题 填空题检测线圈与被检工件相对运动的探伤叫做（）
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