考题
THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A、探头故障B、探头电缆接触不良C、板温读取错误D、热靶温度读取错误E、环温读取错误
考题
在THDS-A设备（哈科所）探测站中，靶温可代表（）。A、环温B、保护门温度C、热靶温度D、以上都不对
考题
THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A、热靶B、探头C、轴箱D、板温E、环温
考题
THDS-A（哈科所）系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。
考题
在THDS-A设备（哈科所）探测站中，板温可代表（）。A、环温B、保护门温度C、热靶温度D、以上都不对
考题
THDS-A（哈科所）设备板温变化超过（）系统要自动进行热靶标定。A、±4℃B、±1℃C、±2℃D、±0.5℃
考题
THDS-A（哈科所）系统，当设备环温器件PT100采集的温度比实际环境温度高出很多时，设备探测的列车轴温温升就偏低，容易造成热轴等级降低。
考题
THDS-A（哈科所）探测站造成探头噪声大的原因有（）。A、探头故障B、探头电源波动C、探头电缆接触不良D、板温读取错误E、环温读取错误
考题
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（）。A、探头出现问题B、无法正确测曲线C、环温出现异常D、影响轴温测温精度E、不影响轴温测温精度
考题
THDS-A（哈科所）系统，板温传感器断线时对探测的列车轴温有影响。
考题
THDS-A（哈科所）系统，板温传感器电缆断路，造成环温显示-50度，可能与板温转换盒有关。
考题
在THDS-A设备（哈科所）探测站中出现板温-50度或+150度，与（）无关。A、铂电阻转换盒B、AD采集卡C、主控AD连接电缆D、热靶温控板
考题
THDS-A（哈科所）探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有（）。A、板温B、环温C、靶温D、光子元温E、制冷温度
考题
THDS-A（哈科所）系统如果报热敏探头板温故障，现象是板温与正常值偏离较大，可能是温度转换盒故障。
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，板温传感器断线时对探测的列车轴温有影响。A
对B
错
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有（）。A板温B环温C靶温D光子元温E制冷温度
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统如果报热敏探头板温故障，现象是板温与正常值偏离较大，可能是温度转换盒故障。A
对B
错
考题
单选题在THDS-A设备（哈科所）探测站中，板温可代表（）。A
环温B
保护门温度C
热靶温度D
以上都不对
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，当设备环温器件PT100采集的温度比实际环境温度高出很多时，设备探测的列车轴温温升就偏低，容易造成热轴等级降低。A
对B
错
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站造成探头噪声大的原因有（）。A探头故障B探头电源波动C探头电缆接触不良D板温读取错误E环温读取错误
考题
单选题在THDS-A设备（哈科所）探测站中出现板温-50度或+150度，与（）无关。A
铂电阻转换盒B
AD采集卡C
主控AD连接电缆D
热靶温控板
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A探头故障B探头电缆接触不良C板温读取错误D热靶温度读取错误E环温读取错误
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A热靶B探头C轴箱D板温E环温
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（）。A探头出现问题B无法正确测曲线C环温出现异常D影响轴温测温精度E不影响轴温测温精度
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统中热靶标定数据中，板温至少应比热靶温度的低大约20℃。A
对B
错
考题
单选题THDS-A（哈科所）设备板温变化超过（）系统要自动进行热靶标定。A
±4℃B
±1℃C
±2℃D
±0.5℃