考题
热靶标定数据中，器件温度至少应（）。A、比环温低B、比盘温低40℃C、比靶温低D、比盘温低10℃
考题
THDS-A（哈科所）系统热靶标定曲线横坐标为热靶温度。
考题
THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A、探头故障B、探头电缆接触不良C、板温读取错误D、热靶温度读取错误E、环温读取错误
考题
在THDS-A设备（哈科所）探测站中，靶温可代表（）。A、环温B、保护门温度C、热靶温度D、以上都不对
考题
THDS-A（哈科所）系统，在热靶标定结束之后至系统标定结束之前，如果发现内探元温变化2度以上，则需重新做内探热靶标定。
考题
THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A、热靶B、探头C、轴箱D、板温E、环温
考题
THDS-A（哈科所）系统，如果报元件温度故障，可能是热靶故障。
考题
在THDS-A设备（哈科所）探测站中，板温可代表（）。A、环温B、保护门温度C、热靶温度D、以上都不对
考题
THDS-A（哈科所）设备板温变化超过（）系统要自动进行热靶标定。A、±4℃B、±1℃C、±2℃D、±0.5℃
考题
THDS-A（哈科所）系统，热靶温度是由热靶上的AD590温度传感器传入控制箱的。
考题
THDS-A红外轴温探测系统热靶标定曲线纵坐标为（）。A、探头输出电压B、热靶温度C、调制盘温度D、板温
考题
（康拓）THDS-A系统热靶标定曲线横坐标为（）。A、探头输出电压B、热靶温度C、调制盘温度D、板温
考题
THDS-A红外轴温探测系统中，热靶大门组合件为（）提供温度基准。A、轴温计算B、热靶标定C、系统标定D、探头标定
考题
（哈科）THDS-C系统，热靶标定数据中，探头输出电压值随着热靶温度的升高而降低。
考题
在THDS-A设备（哈科所）探测站中，元温可代表（）。A、环温B、热靶温度C、探头内部温度D、以上都不对
考题
THDS-A（哈科所）系统中热靶标定数据中，板温至少应比热靶温度的低大约20℃。
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统热靶标定曲线纵坐标为（）。A
探头输出电压B
热靶温度C
调制盘温度D
板温
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，在热靶标定结束之后至系统标定结束之前，如果发现内探元温变化2度以上，则需重新做内探热靶标定。A
对B
错
考题
判断题（哈科）THDS-C系统，热靶标定数据中，探头输出电压值随着热靶温度的升高而降低。A
对B
错
考题
单选题在THDS-A设备（哈科所）探测站中，元温可代表（）。A
环温B
热靶温度C
探头内部温度D
以上都不对
考题
单选题在THDS-A设备（哈科所）探测站中，靶温可代表（）。A
环温B
保护门温度C
热靶温度D
以上都不对
考题
单选题在THDS-A设备（哈科所）探测站中，板温可代表（）。A
环温B
保护门温度C
热靶温度D
以上都不对
考题
单选题（康拓）THDS-A系统热靶标定曲线横坐标为（）。A
探头输出电压B
热靶温度C
调制盘温度D
板温
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统热靶标定曲线横坐标为热靶温度。A
对B
错
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A探头故障B探头电缆接触不良C板温读取错误D热靶温度读取错误E环温读取错误
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A热靶B探头C轴箱D板温E环温
考题
单选题THDS-A（哈科所）设备板温变化超过（）系统要自动进行热靶标定。A
±4℃B
±1℃C
±2℃D
±0.5℃