考题
THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A、探头故障B、探头电缆接触不良C、板温读取错误D、热靶温度读取错误E、环温读取错误
考题
THDS-A（哈科所）系统，热靶曲线加热过快，可能会影响设备的测温精度。
考题
THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A、热靶B、探头C、轴箱D、板温E、环温
考题
在THDS-A设备（哈科所）探测站中，板温可代表（）。A、环温B、保护门温度C、热靶温度D、以上都不对
考题
THDS-A（哈科所）探测站的热靶组件由力矩转角（）驱动。A、电池B、器件C、结构D、电机
考题
THDS-A（哈科所）探测站热靶镀膜损伤时，影响（）。A、探测角度B、保护门打开C、保护门关闭D、探测精度
考题
THDS-A（哈科所）探测站控制航空插座包含（）信号。A、探头电压B、热靶加热信号C、制冷电压D、元温输出信号
考题
THDS-A（哈科所）探测站探头电缆包含（）信号。A、热靶加热信号B、保护门电压C、热靶电机电压D、校零电压
考题
THDS-A（哈科所）设备热靶曲线有纵向跳变，则说明可能是探头温控板故障。
考题
THDS-A（哈科所）系统，THDS设备一号磁钢电缆线正负极接反会造成探测站不接车。
考题
THDS-A（哈科所）探测站室外设备包括（）等。A、控制箱B、车轮传感器C、红外轴温扫描器D、卡轨器E、车号天线
考题
在THDS-A设备（哈科所）探测站中出现板温-50度或+150度，与（）无关。A、铂电阻转换盒B、AD采集卡C、主控AD连接电缆D、热靶温控板
考题
THDS-A（哈科所）探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有（）。A、板温B、环温C、靶温D、光子元温E、制冷温度
考题
THDS-A（哈科所）系统中热靶标定数据中，板温至少应比热靶温度的低大约20℃。
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有（）。A板温B环温C靶温D光子元温E制冷温度
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站热靶镀膜损伤时，影响（）。A
探测角度B
保护门打开C
保护门关闭D
探测精度
考题
单选题在THDS-A设备（哈科所）探测站中，元温可代表（）。A
环温B
热靶温度C
探头内部温度D
以上都不对
考题
单选题在THDS-A设备（哈科所）探测站中，靶温可代表（）。A
环温B
保护门温度C
热靶温度D
以上都不对
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站控制航空插座包含（）信号。A
探头电压B
热靶加热信号C
制冷电压D
元温输出信号
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站室外设备包括（）等。A控制箱B车轮传感器C红外轴温扫描器D卡轨器E车号天线
考题
判断题THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器有热敏探头和光子探头两种。A
对B
错
考题
单选题在THDS-A设备（哈科所）探测站中出现板温-50度或+150度，与（）无关。A
铂电阻转换盒B
AD采集卡C
主控AD连接电缆D
热靶温控板
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A探头故障B探头电缆接触不良C板温读取错误D热靶温度读取错误E环温读取错误
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站探头电缆包含（）信号。A
热靶加热信号B
保护门电压C
热靶电机电压D
校零电压
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A热靶B探头C轴箱D板温E环温
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站的热靶组件由力矩转角（）驱动。A
电池B
器件C
结构D
电机
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统中热靶标定数据中，板温至少应比热靶温度的低大约20℃。A
对B
错