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多选题
手持式X射线荧光光谱分析仪，以下不可检测的元素成分是（）
A

Mo

B

B

C

Sn

D

N

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考题 用手持式X射线荧光光谱仪分析钢材中Si、Al元素时，激发时间要适当加长。
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考题 电网设备的光谱分析检验常用哪种设备（）A、看谱镜B、光电光谱分析仪C、手持式X射线光谱仪D、荧光光谱仪
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考题 在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
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考题 波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管
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考题 X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
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考题 X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。
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考题 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
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考题 台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测。
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考题 手持式X射线荧光光谱仪的小点模式功能，能避免因材料成分不均匀而引起的检测误差。
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考题 手持式X射线荧光光谱仪的镀层模式，是检测镀层元素含量的。
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考题 利用手持式X射线荧光光谱分析仪检测时，分析铁基材料中Al时，不能使用含硅的磨料对分析面进行打磨处理。
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考题 手持式X射线荧光光谱仪测金属镀层厚度，不受基体金属的种类影响。
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考题 X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
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考题 X射线荧光光谱法测定铁水成分，只需样品大小合适，对检测表面制样没什么要求。
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考题 X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱
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考题 X射线荧光仪和光电直读光谱仪分别采用（）和（）来接受被测元素特征光谱信号的。
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考题 X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中连续光谱是构成（）的主要成分。A、激发B、叠加C、散射D、背景
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考题 为什么说元素的X-射线荧光光谱具有很强的特征性？
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考题 判断题手持式X射线荧光光谱仪测金属镀层厚度，不受基体金属的种类影响。A 对B 错
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考题 判断题用手持式X射线荧光光谱仪分析钢材中Si、Al元素时，激发时间要适当加长。A 对B 错
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考题 问答题利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么？X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍（B）—铀（U），为什么不能分析轻元素（氢、氦和锂）？
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考题 判断题手持式X射线荧光光谱仪的镀层模式，是检测镀层元素含量的。A 对B 错
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考题 多选题利用手持式X射线荧光光谱分析仪检测时，到达作业现场后，应检查被检材料和环境是否存在影响分析结果的因素，如果有，必须清理干净。以下属于这些因素的有（）A镀层B油漆C油污D氧化层
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考题 判断题手持式X射线荧光光谱仪的小点模式功能，能避免因材料成分不均匀而引起的检测误差。A 对B 错
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考题 判断题利用手持式X射线荧光光谱分析仪检测时，分析铁基材料中Al时，不能使用含硅的磨料对分析面进行打磨处理。A 对B 错
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考题 判断题台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测。A 对B 错
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考题 单选题电网设备的光谱分析检验常用哪种设备（）A 看谱镜B 光电光谱分析仪C 手持式X射线光谱仪D 荧光光谱仪
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