网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:

题目内容 (请给出正确答案)
判断题
手持式X射线荧光光谱仪的镀层模式,是检测镀层元素含量的。
A

B


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
更多 “判断题手持式X射线荧光光谱仪的镀层模式,是检测镀层元素含量的。A 对B 错” 相关考题
考题 X射线荧光光谱仪可测出样品中的:().A、部分元素的含量B、全部元素的含量C、矿物含量

考题 在现场到货开箱之后或安装调试阶段检测。建议采用()进行箱体厚度测量。A、超声波测厚仪B、便携式光谱仪C、X射线荧光镀层检测仪D、涂层测厚仪

考题 用手持式X射线荧光光谱仪分析钢材中Si、Al元素时,激发时间要适当加长。

考题 X射线荧光镀层厚度检测仪每次使用都需要采用20μm的标准片进行校准。

考题 隔离开关触头、触指镀银层可以采用()检测。A、便携式X射线荧光光谱仪B、台式镀层测厚仪C、便携式超声波测厚仪D、便携式镀层测厚仪

考题 在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分,同时在进行多元素分析时,滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。

考题 波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是()计数器,用于探测轻元素X射线荧光是()正比计数器,封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管

考题 国际上为了准确标定合金化热镀锌产品镀层铁含量,通常采用()A、荧光法B、X射线法C、化学法D、电化学法

考题 台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比,更适合不规则样品的镀层检测。

考题 手持式X射线荧光光谱仪的小点模式功能,能避免因材料成分不均匀而引起的检测误差。

考题 手持式X射线荧光光谱仪的镀层模式,是检测镀层元素含量的。

考题 以下哪种镀层厚度测量方法属于无接触的无损检测方法()A、X射线荧光法B、厚度差测量法C、楔切法D、射线反向散射法

考题 开关柜触头镀银层厚度在出厂验收阶段或安装调试阶段现场检测或取样送检。建议采用()等能保证精度的设备进行开关柜触头镀银层厚度测量。A、X射线荧光镀层检测仪B、回路电阻测试仪C、手持式X射线荧光光谱仪D、机械特性测试仪

考题 手持式X射线荧光光谱仪测金属镀层厚度,不受基体金属的种类影响。

考题 隔离开关镀银层厚度检测使用X射线荧光镀层测厚仪,通过从被检件上反射的二次X射线强度测量镀银层厚度,检测范围可达()μm。A、0.1-5B、0.01-5C、0.1-50D、0.01-50

考题 国网公司《2017年输变电设备金属专项技术监督工作方案》中规定,对构支架镀锌层厚度抽检时,建议采用()进行镀锌层厚度测量。A、磁性镀层测厚仪B、超声波镀层测厚仪C、涡流镀层测厚仪D、X射线荧光镀层检测仪

考题 判断题手持式X射线荧光光谱仪测金属镀层厚度,不受基体金属的种类影响。A 对B 错

考题 判断题用手持式X射线荧光光谱仪分析钢材中Si、Al元素时,激发时间要适当加长。A 对B 错

考题 判断题X射线荧光镀层厚度检测仪每次使用都需要采用20μm的标准片进行校准。A 对B 错

考题 多选题国网公司《2017年输变电设备金属专项技术监督工作方案》中规定,对构支架镀锌层厚度抽检时,建议采用()进行镀锌层厚度测量。A磁性镀层测厚仪B超声波镀层测厚仪C涡流镀层测厚仪DX射线荧光镀层检测仪

考题 单选题在现场到货开箱之后或安装调试阶段检测。建议采用()进行箱体厚度测量。A 超声波测厚仪B 便携式光谱仪C X射线荧光镀层检测仪D 涂层测厚仪

考题 多选题利用手持式X射线荧光光谱分析仪检测时,到达作业现场后,应检查被检材料和环境是否存在影响分析结果的因素,如果有,必须清理干净。以下属于这些因素的有()A镀层B油漆C油污D氧化层

考题 判断题手持式X射线荧光光谱仪的小点模式功能,能避免因材料成分不均匀而引起的检测误差。A 对B 错

考题 多选题手持式X射线荧光光谱分析仪,以下不可检测的元素成分是()AMoBBCSnDN

考题 判断题台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比,更适合不规则样品的镀层检测。A 对B 错

考题 多选题隔离开关触头、触指镀银层可以采用()检测。A便携式X射线荧光光谱仪B台式镀层测厚仪C便携式超声波测厚仪D便携式镀层测厚仪

考题 多选题开关柜触头镀银层厚度在出厂验收阶段或安装调试阶段现场检测或取样送检。建议采用()等能保证精度的设备进行开关柜触头镀银层厚度测量。AX射线荧光镀层检测仪B回路电阻测试仪C手持式X射线荧光光谱仪D机械特性测试仪