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多选题
以下关于可测性设计的描述中，哪些是正确的（）。
A

可测性设计就是在设计阶段考虑测试因素，牺牲一部分芯片面积换得测试的容易化

B

可测性设计使用自动生成工具（ATPG），易于生成故障覆盖率高的测试模式

C

可测性设计由于增加了设计负荷，将一定导致芯片整体开发成本的增加

D

可观察性与可控制性是衡量可测性设计的两个尺度

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