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单选题
锻件中缺陷的取向通常为（）。
A

杂乱

B

平行于晶粒流向

C

垂直于晶粒流向

D

与晶粒流向成45°角

参考答案

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考题 锻件中，非金属夹杂物的最可能取向是()A.与主轴线平行 B.与副轴线平行 C.与锻件流线一致 D.与锻件流线约成45°角
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考题 锻件中缺陷的取向一般与锻件的金属流线（）。
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考题 锻件中，非金属夹杂物的最可能取向是（）A、与主轴线平行B、与副轴线平行C、与锻件流线一致D、与锻件流线约成45°角
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考题 锻件中缺陷的取向通常为（）A、杂乱B、平行于晶粒流向C、垂直线与晶粒流向之间D、与晶粒流向成45º角
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考题 锻件中有一缺陷，其当量为∮4+10dB，其单个缺陷反射的等级为Ⅴ级。（）
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考题 锻件探伤中，如缺陷引起底波明显（）时，说明锻件中存在较严重的缺陷。
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考题 锻件中缺陷的取向通常为（）。A、杂乱B、平行于晶粒流向C、垂直于晶粒流向D、与晶粒流向成45°角
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考题 锻件中缺陷的取向通常为平行于晶粒流向。
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考题 锻件中缺陷的取向通常为（）。
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考题 单选题锻件中缺陷的取向通常为（）A 杂乱B 平行于晶粒流向C 垂直线与晶粒流向之间D 与晶粒流向成45º角
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考题 单选题厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（）A 两个缺陷当量相同B 材质衰减大的锻件中缺陷当量小C 材质衰减小的锻件中缺陷当量小D 以上都不对
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考题 判断题锻件中缺陷的取向通常为平行于晶粒流向。A 对B 错
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考题 单选题锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）A 边缘效应B 工件形状及外形轮廓C 缺陷形状和取向D 以上全部
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考题 单选题锻件中，非金属夹杂物的最可能取向是（）A 与主轴线平行B 与副轴线平行C 与锻件流线一致D 与锻件流线约成45°角
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