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判断题
锻件中缺陷的取向通常为平行于晶粒流向。
A

对

B

错

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考题 锻件中缺陷的取向通常为平行于晶粒流向。（）此题为判断题(对，错)。
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考题 方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
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考题 锻件中缺陷的取向通常为（）。A、杂乱B、平行于晶粒流向C、垂直于晶粒流向D、与晶粒流向成45°角
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考题 锻件中缺陷的取向通常为平行于晶粒流向。
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考题 锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起什么现象？
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考题 方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
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考题 填空题锻件中缺陷的取向通常为（）。
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考题 单选题锻件中缺陷的取向通常为（）。A 杂乱B 平行于晶粒流向C 垂直于晶粒流向D 与晶粒流向成45°角
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考题 单选题锻件中缺陷的取向通常为（）A 杂乱B 平行于晶粒流向C 垂直线与晶粒流向之间D 与晶粒流向成45º角
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考题 单选题铁路货车锻件中缺陷的取向通常为（）A 杂乱B 平行于晶粒流向C 垂直线于晶粒流向D 倾斜于晶粒流向
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考题 问答题锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起什么现象？
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考题 单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。A 平行且靠近探测面B 与声速方向平行C 与探测面成较大角度D 平行且靠近底面
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考题 填空题锻件中缺陷的取向一般与锻件的金属流线（）。
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考题 单选题锻件中，非金属夹杂物的最可能取向是（）A 与主轴线平行B 与副轴线平行C 与锻件流线一致D 与锻件流线约成45°角
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