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判断题
超声检测时只有在试块和试件探测面形状、厚度相同的条件下，才能进行材质差值的测定。
A

对

B

错

参考答案

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解析： 暂无解析
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考题 70度探头折射角测定应（）。A、在CSK-1A试块A面探测Ф50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测Ф50圆弧C、在CSK-1A试块探测Ф1.5横孔D、在半圆试块上测定
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考题 通用探伤仪的水平线性误差测定应（）。A、在CSK-1A试块探测厚度25mm的底面B、在CSK-1A试块探测厚度100mm的底面C、在CSK-1A试块探测厚度91mm的底面D、在CSK-1A试块探测半径50mm的圆弧面
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考题 测定当量用的对比试块，要求材质、探测面形状及粗糙度与试件相同，否则要对测定结果进行（）。
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考题 70°探头折射角测定应（）。A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D、在半圆试块上测定
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考题 超声检测时只有在试块和试件的材质、探测面形状和厚度均相同的条件下，才能进行探测面粗糙度差值的测。
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考题 超声检测时只有在试块和试件探测面形状、厚度相同的条件下，才能进行材质差值的测定。
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考题 用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A、不变B、变化
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考题 超声检测中考虑灵敏度补偿可能的理由是（）。A、被检工件厚度太大B、工件底面与探测面不平行C、耦合剂有较大声能损耗D、曲面工件E、工件与试块材质、表面状态不同
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考题 IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。
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考题 判断题IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。A 对B 错
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考题 单选题下列说法正确的是（）A 标准试块就是对比试块B 对比试块的材质与试件的材质必须相同或相似C 超声探伤时根本不需要用标准试块或对比试块调试仪器D 用试块调试仪器时，灵敏度尽量高，发现缺陷就报废，以保证产品质量
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考题 多选题超声检测中考虑灵敏度补偿可能的理由是（）。A被检工件厚度太大B工件底面与探测面不平行C耦合剂有较大声能损耗D曲面工件E工件与试块材质、表面状态不同
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考题 单选题考虑灵敏度补偿的理由是（）A 被检工件厚度太大B 工件底面与探测面不平行C 耦合剂有较大声能损耗D 工件与试块材质，表面光洁度有差异
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考题 判断题超声检测时只有在试块和试件的材质、探测面形状和厚度均相同的条件下，才能进行探测面粗糙度差值的测。A 对B 错
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考题 多选题对超声波测厚试块的要求有（）A试块要求与被检材料相同或近似的声学性B在被测范围内，有精确的厚度值C试块最大厚度应接近测厚范围的最大值D试块最小厚度应接近测厚范围的最小值
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