网友您好， 请在下方输入框内输入要搜索的题目：
题目内容
（请给出正确答案）
单选题
造成卷摺伪影主要是因为（）
A
视场的范围超出被检查的揭破部位。
B
被检查的揭破部位超出视场的范围。
C
TR过大。
D
TE过大。
E
扫描时间过长。
参考答案
参考解析
解析：
暂无解析
更多 “单选题造成卷摺伪影主要是因为（）A 视场的范围超出被检查的揭破部位。B 被检查的揭破部位超出视场的范围。C TR过大。D TE过大。E 扫描时间过长。” 相关考题
考题
关于卷褶伪影的说法，正确的是A、卷褶伪影是由于FOV过大造成的B、卷褶伪影在2D采集中经常出现，在3D采集中不会出现C、卷褶伪影出现在频率编码方向D、卷褶伪影出现在相位编码方向E、卷褶伪影既可以出现在相位编码方向上，也可以出现在频率编码方向上
考题
多选题关于卷褶伪影的叙述，正确的是（）A卷褶伪影是由于FOV小于受检部位所致B卷褶伪影主要发生在频率编码方向上C变换频率编码和相位编码方向可消除卷褶伪影D施加空间预饱和带可抑制卷褶伪影E增大FOV可增加卷褶伪影出现的频率
考题
单选题主要出现在频率编码方向的图像伪影是（）A
运动伪影B
磁敏感伪影C
截断伪影D
卷褶伪影E
化学位移伪影
热门标签
最新试卷