考题
JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
考题
JB/T4730标准规定，磁痕显示分为（）A、相关显示B、非相关显示C、伪显示D、以上都是
考题
JB/T4730标准规定，关于磁粉检测在圆形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，应进行（）评级。
考题
对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录，同时应用草图 标示。
考题
JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
考题
按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。
考题
JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。
考题
JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。
考题
记录缺陷磁痕的常用方法有（）、（）、（）和（）等
考题
按照NB/T47013.5-2015的规定，缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录，同时用草图标示（）A、照相B、录像C、可剥性塑料薄膜D、以上全是
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
考题
JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）
考题
JB/T4730-2005规定：着色渗透检测时，缺陷的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图进行标示。
考题
填空题记录缺陷磁痕的常用方法有（）、（）、（）和（）等
考题
填空题JB/T4730标准规定，关于磁粉检测在圆形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，应进行（）评级。
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。A
对B
错
考题
填空题按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。
考题
判断题JB/T4730-2005规定：着色渗透检测时，缺陷的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图进行标示。A
对B
错
考题
问答题JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
考题
单选题JB/T4730标准规定，磁痕显示分为（）A
相关显示B
非相关显示C
伪显示D
以上都是
考题
单选题JB/T4730标准规定，凡长度小于（）的缺陷磁痕不计。A
1mmB
0.1mmC
0.5mmD
0.8mm
考题
判断题对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录，同时应用草图 标示。A
对B
错
考题
单选题按照NB/T47013.5-2015的规定，缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录，同时用草图标示（）A
照相B
录像C
可剥性塑料薄膜D
以上全是
考题
问答题JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？
考题
填空题按JB4248-86标准，凡缺陷磁痕尺寸小于1.5mm和发纹可（）、（）
考题
填空题JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）