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判断题
JB/T4730-2005规定：着色渗透检测时，缺陷的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图进行标示。
A

对

B

错

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解析： 暂无解析
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考题 根据JB／T4730－2005《承压设备无损检测》规定:对环形锻件进行横波检测时,发现一缺陷波高比基准灵敏度距离－波幅曲线低4dB,则该缺陷可不必纪录() 此题为判断题(对，错)。
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考题 根据JB／T4730－2005《承压设备无损检测》规定:对焊缝进行C级检测时,若斜探头扫查母材区用直探头检测缺陷波高比无缺陷处第二次底波低10dB,则应在工件表面作出标记,并予以记录。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 根据JB／T4730－2005《承压设备无损检测》规定,对焊缝超声波探伤缺陷类型的识别就是确定缺陷的实际性质。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
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考题 JB/T4730-2005标准规定：长度与宽度之比小于3的缺陷显示，按圆形缺陷处理。
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考题 JB/T4730-2005标准规定：显示分为相关显示，非相关显示和虚假显示，小于0.5mm的显示不计，其它任何显示均应记录和评定。
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考题 对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录，同时应用草图 标示。
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考题 着色渗透检测时缺陷显示评定应在暗处进行。
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考题 在碳钢和低合金钢锻件超声检测时，按照JB/T4730.3—2005标准规定，如何记录密集性 缺陷？如何测定缺陷密集区面积？
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考题 按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。
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考题 JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。
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考题 按照NB/T47013.5-2015的规定，缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录，同时用草图标示（）A、照相B、录像C、可剥性塑料薄膜D、以上全是
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考题 JB/T4730-2005规定：着色渗透检测时，缺陷的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图进行标示。
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考题 判断题JB/T4730.3－2005《承压设备无损检测》标准规定，对在用压力管道环向焊缝对接接头超声检测时，应根据在用工业管道定期检验规程等技术规程的要求对缺陷的超声检测结果进行记录。A 对B 错
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考题 判断题JB/T4730.3－2005 标准规定，碳钢和低合金钢各类锻件超声检测时，应记录大于或等于Φ4 mm 当量直径的缺陷密集区。A 对B 错
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考题 判断题JB/T4730.3－2005《承压设备无损检测》标准规定，碳钢和低合金钢锻件超声检测时，应记录当量直径超过Φ3mm 的单个缺陷的波幅和位置。A 对B 错
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考题 判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。A 对B 错
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考题 填空题JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
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考题 填空题按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。
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考题 判断题JB/T4730-2005标准规定：长度与宽度之比小于3的缺陷显示，按圆形缺陷处理。A 对B 错
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考题 判断题JB/T4730-2005标准规定：显示分为相关显示，非相关显示和虚假显示，小于0.5mm的显示不计，其它任何显示均应记录和评定。A 对B 错
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考题 判断题对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录，同时应用草图 标示。A 对B 错
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考题 单选题按照NB/T47013.5-2015的规定，缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录，同时用草图标示（）A 照相B 录像C 可剥性塑料薄膜D 以上全是
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考题 判断题着色渗透检测时缺陷显示评定应在暗处进行。A 对B 错
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