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填空题
按照JB/T4730.5-2005的规定,缺陷的显示记录可采用()、()、()等方式记录,同时用草图标示。

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考题 JB/T4730标准规定,缺陷磁痕的显示记录可采用()、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。

考题 用溶剂去除型着色探伤时,按照JB/T4730.5-2005的规定,应该怎样去除多余的渗透剂?

考题 对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录,同时应用草图 标示。

考题 按照JB/T4730.5-2005的规定,缺陷显示在长轴方向与工件(轴类或管类)轴线或母线的夹角大于或等于30°时,按横向缺陷处理。紧固件和轴类零件不允许()。

考题 在碳钢和低合金钢锻件超声检测时,按照JB/T4730.3—2005标准规定,如何记录密集性 缺陷?如何测定缺陷密集区面积?

考题 下列叙述与JB/T4730.5-2005标准规定不相符合的是:()A、渗透检测质量分级考虑到了缺陷性质、数量、尺寸和密集程度B、圆形缺陷的分级既限定了单个缺陷最大尺寸,又限定了缺陷密集程度C、焊接接头不允许存在横向线性缺陷显示D、评定框内同时存在线性缺陷和圆形缺陷时,应进行综合评级

考题 JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的?

考题 按照JB/T4730.5-2005的规定,缺陷的显示记录可采用()、()、()等方式记录,同时用草图标示。

考题 JB/T4730.5-2005标准对观察显示时间时怎样规定的?

考题 按照JB/T4730.5-2005的规定,渗透探伤方法的选择应考虑哪些因素?试举例说明。

考题 JB 3963-85标准规定,应记录缺陷当量直径()的单个缺陷的()和()

考题 按JB/T4730.5-2005标准,某缺陷显示在长轴方向与长轴件轴线的夹角为150°,则该显示按横向缺陷处理。

考题 按JB/T4730.5-2005标准,荧光渗透检测去除操作时,在紫外线灯照射下采用边观察边去除的方式,这是为了()A、便于观察缺陷显示B、提高观察时的背景可见光照度C、便于观察显示形成过程D、防止过度去除,同时防止去除不足

考题 JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录,同时应用草图标示。

考题 按照NB/T47013.5-2015的规定,缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录,同时用草图标示()A、照相B、录像C、可剥性塑料薄膜D、以上全是

考题 单选题按JB/T4730.5-2005标准,荧光渗透检测去除操作时,在紫外线灯照射下采用边观察边去除的方式,这是为了()A 便于观察缺陷显示B 提高观察时的背景可见光照度C 便于观察显示形成过程D 防止过度去除,同时防止去除不足

考题 问答题在碳钢和低合金钢锻件超声检测时,按照JB/T4730.3—2005标准规定,如何记录密集性 缺陷?如何测定缺陷密集区面积?

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考题 判断题按JB/T4730.5-2005标准,某缺陷显示在长轴方向与长轴件轴线的夹角为150°,则该显示按横向缺陷处理。A 对B 错

考题 填空题按照JB/T4730.5-2005的规定,缺陷的显示记录可采用()、()、()等方式记录,同时用草图标示。

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考题 判断题对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录,同时应用草图 标示。A 对B 错

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考题 单选题按照NB/T47013.5-2015的规定,缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录,同时用草图标示()A 照相B 录像C 可剥性塑料薄膜D 以上全是