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问答题
散射线在透照时如何遮挡？

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考题 透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，不可选用有利于发现缺陷的方向透照。
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考题 工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（）A、影像重叠B、影像畸变C、影像放大D、以上都有可能
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考题 对环焊缝作源在外的单壁透照时，确定透照次数与（）相关A、透照厚度比、工件外径、工件壁厚B、工件外径、透照厚度比、射线源与工件表面距离C、工件壁厚、透照厚度比、工件外径、射线源与工件表面距D、透照厚度比、工件壁厚/工件外径、工件外径/射线源与工件表面距离
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考题 下列各项中，在X射线照相中确定透照电压时必须遵守的规定是（）A、透照电压应尽可能低B、透照电压应与透照厚度相适应C、透照电压不应超过允许的最高值D、以上都是
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考题 射线检测时的透照布置要求包括（）。A、射线能量B、透照方式C、透照方向D、一次透照长度
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考题 当采用射线探伤方法时，应优先采用X射线源进行透照检测。
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考题 对工件进行局部透照时，可利用（）对非透照区进行遮挡。
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考题 在一次椭圆成像透照中存在的主要困难是（）A、透照厚度比变化大B、射线照射角变化大C、有效透照长度变化大D、以上都是
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考题 下列各项中决定双壁透照双壁成像（椭圆成像）时射线源偏移距离的因素是（）A、透照厚度比B、有效透照区C、射线束照射角D、焊缝热影响区宽度
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考题 透照时，确定中心射线束方向时应考虑缺陷延伸方向。
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考题 在对焊缝作射线照相时，线型像质计应放在有效照相范围的下述哪个位置？（）A、透照场中心，焊缝上（与射线源同侧）B、透照场一端，焊缝上（与射线源同侧）C、透照场中心，焊缝上（与胶片同侧）D、透照场一端，焊缝上（与射线源异侧）
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考题 射线照相实际透照时很少采用标准允许的最小焦距值。
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考题 散射线在透照时如何遮挡？
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考题 能量较低的射线较更容易被胶片吸收，引起感光，因此，射线透照时防止散射线十分重要。
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考题 在X射线探伤中，焦距应如何选择？（）A、选得越大越好B、选得越小越好C、任意选择D、根据透照面积及规定的几何模糊度来选择
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考题 散乱射线是怎样产生的？它对底片有何影响？透照时如何遮挡？
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考题 射线源和胶片处于工件两面，透照时的像质计应如何放置？为什么？
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考题 窄束射线和宽束射线，在透照工件时出现下列情况（）。A、窄束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器B、宽束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器C、窄束透照工件时，只有未散射的透过射线I到达检测器D、以上B和C均正确
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考题 一次椭圆成像透照时存在的主要困难是 （）。A、透照厚度比变化大B、射线照射角变化大C、有效透照长度变化大D、以上都是
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考题 单选题窄束射线和宽束射线，在透照工件时出现下列情况（）。A 窄束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器B 宽束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器C 窄束透照工件时，只有未散射的透过射线I到达检测器D 以上B和C均正确
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考题 判断题当采用射线探伤方法时，应优先采用X射线源进行透照检测。A 对B 错
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考题 单选题在对焊缝作射线照相时，线型像质计应放在有效照相范围的下述哪个位置？（）A 透照场中心，焊缝上（与射线源同侧）B 透照场一端，焊缝上（与射线源同侧）C 透照场中心，焊缝上（与胶片同侧）D 透照场一端，焊缝上（与射线源异侧）
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考题 多选题射线检测时的透照布置要求包括（）。A射线能量B透照方式C透照方向D一次透照长度
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考题 单选题下列各项中决定双壁透照双壁成像（椭圆成像）时射线源偏移距离的因素是（）A 透照厚度比B 有效透照区C 射线束照射角D 焊缝热影响区宽度
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考题 单选题下列各项中，在X射线照相中确定透照电压时必须遵守的规定是（）A 透照电压应尽可能低B 透照电压应与透照厚度相适应C 透照电压不应超过允许的最高值D 以上都是
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考题 填空题对工件进行局部透照时，可利用（）对非透照区进行遮挡。
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考题 判断题透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，不可选用有利于发现缺陷的方向透照。A 对B 错
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