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工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（）

  • A、影像重叠
  • B、影像畸变
  • C、影像放大
  • D、以上都有可能

参考答案

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考题 射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。
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考题 缺陷沿射线方向的尺寸与底片上缺陷影像的大小成正比。
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考题 射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从缺陷影像的几何形状、（）和位置进行综合分析。A、长度B、厚度C、大小D、黑度分布
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考题 从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A、胶片粒度B、底片上缺陷影像的不清晰度C、底片上缺陷影像的对比度D、以上都是
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考题 在射线底片上，使缺陷影像发生畸变最重要的原因是（）A、射源尺寸B、射源到缺陷的距离C、缺陷到胶片的距离D、缺陷相对于射源和胶片的位置和方向
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考题 工件中缺陷的取向与X射线入射方向（）时，在底片上能获得最清晰的缺陷影像。A、垂直B、平行C、倾斜45°D、都可以
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考题 射线照像影像会放大，下面叙述中正确的是（）A、射源至试件距离越远，影像放大得越大B、射源至试件的距离与试件至底片距离之比越大，影像放大得越大C、射源至试件的距离与试件至底片距离之比越小，影像放大得越大D、射源至试件的距离与影像放大无关
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考题 射线穿透物体在胶片上成像时会产生（）A、影像重叠B、影像放大C、影像畸变D、以上都是
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考题 在相同检测条件下，同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时，则（）A、其影像放大得越大，而其几何不清晰度变大B、其影像放大得越小，而其几何不清晰度变大C、其影像放大得越大，而其几何不清晰度变小D、其影像放大得越小，而其几何不清晰度变小
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考题 射线探伤时，使用透度计的主要目的是（）A、测量缺陷大小B、测量底片黑度C、测量几何不清晰度D、衡量透照底片的影像质量
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考题 关于影像放大的以下说法错误的是（）A、影像放大是指在胶片上形成的影像的尺寸大于形成影像的物体的尺寸B、影像放大与射线源尺寸无关C、影像放大的程度与射线源至被透照物体的距离有关D、影像放大的程度与影像所表示的物体和胶片的距离有关
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考题 夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状
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考题 射线照像是以射线穿透试件而投影在底片上的，因此影像轮廓会（）A、放大B、变形C、模糊D、以上都对
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考题 单选题射线穿透物体在胶片上成像时会产生（）A 影像重叠B 影像放大C 影像畸变D 以上都是
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考题 单选题试样中靠近射线源侧的缺陷影像，在（）情况下其清晰度不好A 射线源到物体距离增大B 试样厚度增大C 焦点尺寸减小D 试样厚度减小
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考题 单选题工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（）A 影像重叠B 影像畸变C 影像放大D 以上都有可能
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考题 单选题关于影像放大的以下说法错误的是（）A 影像放大是指在胶片上形成的影像的尺寸大于形成影像的物体的尺寸B 影像放大与射线源尺寸无关C 影像放大的程度与射线源至被透照物体的距离有关D 影像放大的程度与影像所表示的物体和胶片的距离有关
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考题 单选题在相同检测条件下，同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时，则（）A 其影像放大得越大，而其几何不清晰度变大B 其影像放大得越小，而其几何不清晰度变大C 其影像放大得越大，而其几何不清晰度变小D 其影像放大得越小，而其几何不清晰度变小
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考题 单选题射线照像影像会放大，下面叙述中正确的是（）A 射源至试件距离越远，影像放大得越大B 射源至试件的距离与试件至底片距离之比越大，影像放大得越大C 射源至试件的距离与试件至底片距离之比越小，影像放大得越大D 射源至试件的距离与影像放大无关
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考题 填空题射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。
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