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单选题
连续谱X射线透照工件时,随着透照厚度的增加,总的强度递减,而平均波长值()。
A
变小
B
变大
C
不变
D
以上都不对
参考答案
参考解析
解析:
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考题
以下关于X射线照相曝光曲线形式的说法正确的是()A、横座标表示工件的透照厚度B、纵座标(对数座标)表示曝光量(毫安与时间的乘积)C、用一组斜线表示相应的管电压值时的透照厚度和曝光量之间的关系D、以上都对
考题
DL/T821一2002规定,对较大直径管道对接接头射线透照检验时,为提高横向裂纹检出率,应选用周向X射线机或γ射线源,采用中心全周透照法。若采用其他透照方法,则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足:环缝K值不大于1.2,纵缝K值不大于1.03。()
考题
对环焊缝作源在外的单壁透照时,确定透照次数与()相关A、透照厚度比、工件外径、工件壁厚B、工件外径、透照厚度比、射线源与工件表面距离C、工件壁厚、透照厚度比、工件外径、射线源与工件表面距D、透照厚度比、工件壁厚/工件外径、工件外径/射线源与工件表面距离
考题
对厚度为15MM,直径1000MM的筒体的对接环缝照相,较理想的选择是()A、IR192γ源,中心透照法B、锥靶周向X射线机,中心透照法C、单向X射线机D、平靶周向X射线机,中心透照法
考题
窄束射线和宽束射线,在透照工件时出现下列情况()。A、窄束透照工件时,未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器B、宽束透照工件时,未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器C、窄束透照工件时,只有未散射的透过射线I到达检测器D、以上B和C均正确
考题
单选题窄束射线和宽束射线,在透照工件时出现下列情况()。A
窄束透照工件时,未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器B
宽束透照工件时,未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器C
窄束透照工件时,只有未散射的透过射线I到达检测器D
以上B和C均正确
考题
判断题DL/T821一2002规定,对较大直径管道对接接头射线透照检验时,为提高横向裂纹检出率,应选用周向X射线机或γ射线源,采用中心全周透照法。若采用其他透照方法,则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足:环缝K值不大于1.2,纵缝K值不大于1.03。()A
对B
错
考题
单选题以下关于X射线照相曝光曲线形式的说法正确的是()A
横座标表示工件的透照厚度B
纵座标(对数座标)表示曝光量(毫安与时间的乘积)C
用一组斜线表示相应的管电压值时的透照厚度和曝光量之间的关系D
以上都对
考题
单选题采用与被透照工件对射线吸收性质相同或相近的材料制成,用于填补工件不同厚度部分,使工件的透照厚度趋于一致,这种被称之为()A
补偿块B
补偿粉C
补偿液D
以上都是
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