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单选题
用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷,应该采用的频率()。
A

越高越好

B

越低越好

C

不太高的频率

D

较寻常为高的频率


参考答案

参考解析
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考题 用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。()此题为判断题(对,错)。

考题 用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果好。()

考题 用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。A、面积大的,当量也一定大B、面积大的,当量不一定比面积小的大C、面积大的,当量反而比面积小的小D、它们的当量相等

考题 用单探头法,要发现与声束取向不良的缺陷,应采用的探头频率()。A、愈高愈好B、愈低愈好C、不太高的频率D、较寻常为高的频率

考题 由于轨底三角区横向裂纹的取向与37°探头的声束不垂直,所以37°探头不能发现该缺陷。()此题为判断题(对,错)。

考题 为了得到最强的缺陷反射,探头的波束应该()A、声束与缺陷平行B、声束与缺陷垂直C、声波从缺陷边缘穿过D、以上都可以

考题 用单探头法探测二个表面平整,但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同切不工件界面的影响),它们的当量()A、面积大的,当量也一定大B、面积大的,当量不一定比面积小的为大C、面积大的,当量反而要比面积小的要小D、它们的当量相等

考题 用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷,应该采用的频率()。A、越高越好B、越低越好C、不太高的频率D、较寻常为高的频率

考题 用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷,应采用的频率()A、越高越好B、越低越好C、不太高的频率D、较寻常为高的频率

考题 一般来说,要检出焊接板中沿熔化区取向的缺陷,最佳的超声检测方法是()A、用表面波、斜声束接触法B、用横波、斜声束法C、用表面波、水浸检测法D、用纵波直声束接触法

考题 斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行,但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为()。A、面积大于声束截面的当量一定大B、面积小于声束截面的当量反而大C、当量忽大忽小D、以上都可能

考题 用单探头发现与声束取向不良的缺陷,应该采用的频率是()。A、越高越好B、越低越好C、适当偏低的频率D、较平常为高的频率

考题 用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷,应该采用不太高的频率。

考题 斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行,但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而()。

考题 用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。A、面积大的,当量也一定大B、面积大的,当量不一定比面积小的大C、面积大的,当量反而比面积小的小D、相等

考题 用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。

考题 由于轨底三角区横向裂纹的取向与37°探头的声束不垂直,所以37°探头不能发现该缺陷。

考题 选择探头K值时,应考虑缺陷的取向,应尽可能使声束与缺陷垂直

考题 用直探头探伤,当缺陷小于声束截面时,一般采用()定量;当缺陷大于声束截面时,一般采用()或()定量。

考题 用单探头法,要发现与声束取向不良的缺陷,应采用的探头频率()。A、愈高愈好B、愈低愈好C、不太高D、较寻常时取高值

考题 判断题由于轨底三角区横向裂纹的取向与37°探头的声束不垂直,所以37°探头不能发现该缺陷。A 对B 错

考题 单选题用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷,应采用的频率()A 越高越好B 越低越好C 不太高的频率D 较寻常为高的频率

考题 单选题用单探头法,要发现与声束取向不良的缺陷,应采用的探头频率()。A 愈高愈好B 愈低愈好C 不太高D 较寻常时取高值

考题 判断题选择探头K值时,应考虑缺陷的取向,应尽可能使声束与缺陷垂直A 对B 错

考题 判断题用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。A 对B 错

考题 单选题用单探头法探测二个表面平整,但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同切不工件界面的影响),它们的当量()A 面积大的,当量也一定大B 面积大的,当量不一定比面积小的为大C 面积大的,当量反而要比面积小的要小D 它们的当量相等

考题 单选题为了得到最强的缺陷反射,探头的波束应该()A 声束与缺陷平行B 声束与缺陷垂直C 声波从缺陷边缘穿过D 以上都可以