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单选题
用单探头法探测二个表面平整，但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同切不工件界面的影响），它们的当量（）
A

面积大的，当量也一定大

B

面积大的，当量不一定比面积小的为大

C

面积大的，当量反而要比面积小的要小

D

它们的当量相等

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考题 用单探头探伤时，对于与声束取向不良的缺陷，采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。（）此题为判断题(对，错)。
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考题 用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果好。()
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考题 用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响)，它们的当量()。A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的大C、面积大的，当量反而比面积小的小D、它们的当量相等
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考题 用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率()。A、愈高愈好B、愈低愈好C、不太高的频率D、较寻常为高的频率
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考题 在检验工件时，虽无缺陷回波，但底波高度剧烈下降，这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良，或存在疏松，晶粒粗大。
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考题 方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
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考题 用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的频率（）A、越高越好B、越低越好C、不太高的频率D、较寻常为高的频率
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考题 斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为（）。A、面积大于声束截面的当量一定大B、面积小于声束截面的当量反而大C、当量忽大忽小D、以上都可能
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考题 用单探头发现与声束取向不良的缺陷，应该采用的频率是（）。A、越高越好B、越低越好C、适当偏低的频率D、较平常为高的频率
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考题 用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷，应该采用不太高的频率。
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考题 斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而（）。
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考题 声束与缺陷主反射面所成的角度称为（）。A、入射角B、折射角C、缺陷取向D、反射角
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考题 用入射角为36.5°的有机玻璃楔块制作斜探头，用一次声探测钢制工件时，测得某缺陷的声程为141mm，求探头距缺陷的水平距离与缺陷距离探测面的深度？（CL＝2730m/s；CS＝3250m/s）
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考题 用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的大C、面积大的，当量反而比面积小的小D、相等
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考题 用单探头探伤时，对于与声束取向不良的缺陷，采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。
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考题 选择探头K值时，应考虑缺陷的取向，应尽可能使声束与缺陷垂直
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考题 用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率（）。A、愈高愈好B、愈低愈好C、不太高D、较寻常时取高值
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考题 单选题用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。A 面积大的，当量也一定大B 面积大的，当量不一定比面积小的大C 面积大的，当量反而比面积小的小D 相等
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考题 单选题用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率（）。A 愈高愈好B 愈低愈好C 不太高D 较寻常时取高值
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考题 判断题选择探头K值时，应考虑缺陷的取向，应尽可能使声束与缺陷垂直A 对B 错
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考题 判断题用单探头探伤时，对于与声束取向不良的缺陷，采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。A 对B 错
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考题 判断题在检验工件时，虽无缺陷回波，但底波高度剧烈下降，这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良，或存在疏松，晶粒粗大。A 对B 错
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考题 单选题用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷，应该采用的频率（）。A 越高越好B 越低越好C 不太高的频率D 较寻常为高的频率
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考题 问答题用入射角为36.5°的有机玻璃楔块制作斜探头，用一次声探测钢制工件时，测得某缺陷的声程为141mm，求探头距缺陷的水平距离与缺陷距离探测面的深度？（CL＝2730m/s；CS＝3250m/s）
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