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用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率（）。

  • A、愈高愈好
  • B、愈低愈好
  • C、不太高
  • D、较寻常时取高值

参考答案

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考题 用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果好。()
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考题 用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响)，它们的当量()。A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的大C、面积大的，当量反而比面积小的小D、它们的当量相等
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考题 用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率()。A、愈高愈好B、愈低愈好C、不太高的频率D、较寻常为高的频率
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考题 用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷，应该采用的频率（）。A、越高越好B、越低越好C、不太高的频率D、较寻常为高的频率
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考题 用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的频率（）A、越高越好B、越低越好C、不太高的频率D、较寻常为高的频率
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考题 用单探头发现与声束取向不良的缺陷，应该采用的频率是（）。A、越高越好B、越低越好C、适当偏低的频率D、较平常为高的频率
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考题 斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而（）。
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考题 探头晶片面积相同，高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。
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考题 用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的大C、面积大的，当量反而比面积小的小D、相等
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考题 用单探头探伤时，对于与声束取向不良的缺陷，采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。
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考题 由于轨底三角区横向裂纹的取向与37°探头的声束不垂直，所以37°探头不能发现该缺陷。
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考题 探头主声束轴线与探头法线夹角，透声检测用（），其它检测用（）。
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考题 选择探头K值时，应考虑缺陷的取向，应尽可能使声束与缺陷垂直
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考题 用直探头探伤，当缺陷小于声束截面时，一般采用（）定量；当缺陷大于声束截面时，一般采用（）或（）定量。
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考题 判断题探头晶片面积相同，高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。A 对B 错
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考题 判断题由于轨底三角区横向裂纹的取向与37°探头的声束不垂直，所以37°探头不能发现该缺陷。A 对B 错
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考题 单选题用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的频率（）A 越高越好B 越低越好C 不太高的频率D 较寻常为高的频率
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考题 单选题用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率（）。A 愈高愈好B 愈低愈好C 不太高D 较寻常时取高值
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考题 判断题选择探头K值时，应考虑缺陷的取向，应尽可能使声束与缺陷垂直A 对B 错
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考题 判断题用单探头探伤时，对于与声束取向不良的缺陷，采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。A 对B 错
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考题 填空题用直探头探伤，当缺陷小于声束截面时，一般采用（）定量；当缺陷大于声束截面时，一般采用（）或（）定量。
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考题 单选题用单探头法探测二个表面平整，但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同切不工件界面的影响），它们的当量（）A 面积大的，当量也一定大B 面积大的，当量不一定比面积小的为大C 面积大的，当量反而要比面积小的要小D 它们的当量相等
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考题 单选题用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷，应该采用的频率（）。A 越高越好B 越低越好C 不太高的频率D 较寻常为高的频率
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