考题
在仪器示波屏上显示的被检工件底面反射信号称底面回波。()
此题为判断题(对，错)。
考题
在检验零件时，若无缺陷显示，则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降，引起 这种情况的原因（ ）。A.可能是疏松B.可能是大晶粒C.可能是大而平的缺陷与入射声束取向不良D.上述三种都可能
考题
在阴极射线示波屏上显示的被检工件底面反射信号，称为（ ）。A.杂波B.始波C.发射脉冲D.底面回波
考题
在检验工件时若无缺陷显示，则操作者应注意底面回波，若底面回波的高度剧烈下降，引起这种情况的原因可能是()：A.大而平的缺陷与入射声束取向不良
B.疏松
C.晶粒粗大
D.以上都是
考题
直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生（）。A、底面回波降低或消失B、底面回波不降低C、底面回波变窄D、以上都不对
考题
在检验工件时，虽无缺陷回波，但底波高度剧烈下降，这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良，或存在疏松，晶粒粗大。
考题
对球墨铸铁探伤时，可采用下列哪种方法判断铸件质量（）A、底面回波次数B、杂波高度C、缺陷波幅度D、缺陷波占宽
考题
JB/T8467-96标准规定：底波降低量BG/BF（db）中的BG表示（）A、底面回波高度B、有缺陷处的底面回波高度C、无缺陷处的底面回波高度D、缺陷回波高度
考题
在检验工件时，若无缺陷显示，则操作者应注意底面回波，若底面回波的高度剧烈下降，引起这种情况的原因可能是（）A、大而平的缺陷与入射声束取向不良B、疏松C、晶粒粗大D、以上都是
考题
轴类工件外圆面径向探伤时，曲底面的回波声压与同声程大平底面相同。
考题
垂直探伤时，工件底面倾斜能引起局部或整个地丧失底面回波。
考题
与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是（）。A、回波幅度与底面反射波高度相差不大B、底面反射完全消失C、缺陷反射波高于底面回波D、底波与缺陷波同时存在
考题
直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。
考题
纵波垂直探伤时，当试件的二次底面回波显示在时基限标度5上时，则一次底面回波和三次底面回波应显示于时基限标度（）上。A、2.5和7.5B、3和7C、2和8
考题
直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行，会使底面回波变窄。
考题
探测面与工件底面不平行时将导致底面回波消失。
考题
水侵检验时，探头与工件间的水距应使试件的二次界面回波落在试件（）回波之后。
考题
在阴极射线示波屏上显示的被检工件底面反射信号，称为（）。A、杂波B、始波C、发射脉冲D、底面回波
考题
单选题直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生（）。A
底面回波降低或消失B
底面回波不降低C
底面回波变窄D
以上都不对
考题
单选题对球墨铸铁探伤时，可采用下列哪种方法判断铸件质量（）A
底面回波次数B
杂波高度C
缺陷波幅度D
缺陷波占宽
考题
判断题在检验工件时，虽无缺陷回波，但底波高度剧烈下降，这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良，或存在疏松，晶粒粗大。A
对B
错
考题
单选题在检验零件时，若无缺陷显示，则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降，引起这种情况的原因可能是（）A
在而平的缺陷与入射声束取向不良B
疏松C
大晶粒D
上述三种都可能引起这种情况
考题
单选题纵波垂直探伤时，当试件的二次底面回波显示在时基限标度5上时，则一次底面回波和三次底面回波应显示于时基限标度（）上。A
2.5和7.5B
3和7C
2和8
考题
单选题在检验工件时，若无缺陷显示，则操作者应注意底面回波，若底面回波的高度剧烈下降，引起这种情况的原因可能是（）A
大而平的缺陷与入射声束取向不良B
疏松C
晶粒粗大D
以上都是
考题
单选题JB/T8467-96标准规定：底波降低量BG/BF（db）中的BG表示（）A
底面回波高度B
有缺陷处的底面回波高度C
无缺陷处的底面回波高度D
缺陷回波高度
考题
单选题在阴极射线示波屏上显示的被检工件底面反射信号，称为（）。A
杂波B
始波C
发射脉冲D
底面回波
考题
问答题检验工件时若无缺陷波显示，工作者应注意底面回波高度的剧烈下降，引起这种情况的原因可能是什么？