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单选题
在检验工件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波,若底面回波的高度剧烈下降,引起这种情况的原因可能是()
A

大而平的缺陷与入射声束取向不良

B

疏松

C

晶粒粗大

D

以上都是


参考答案

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考题 在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起 这种情况的原因( )。A.可能是疏松B.可能是大晶粒C.可能是大而平的缺陷与入射声束取向不良D.上述三种都可能

考题 在检验工件时若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波,若底面回波的高度剧烈下降,引起这种情况的原因可能是():A.大而平的缺陷与入射声束取向不良 B.疏松 C.晶粒粗大 D.以上都是

考题 在检验工件时,虽无缺陷回波,但底波高度剧烈下降,这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良,或存在疏松,晶粒粗大。

考题 斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波,底面回波消失D、缺陷回波和底面回波同时存在

考题 对于超声波检测中的脉冲反射法,若工件内存在缺陷,超声波会在缺陷处反射,仪器显示屏上会有发射脉冲T、底面回波B和缺陷回波F。

考题 在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因可能是()A、在而平的缺陷与入射声束取向不良B、疏松C、大晶粒D、上述三种都可能引起这种情况

考题 JB/T8467-96标准规定:底波降低量BG/BF(db)中的BG表示()A、底面回波高度B、有缺陷处的底面回波高度C、无缺陷处的底面回波高度D、缺陷回波高度

考题 JB/T8467-96标准规定:底波降低量BG/BF(db)中的BF表示()A、缺陷回波高度B、底面回波高度C、有缺陷处的底面回波高度D、以上都是

考题 在检验工件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波,若底面回波的高度剧烈下降,引起这种情况的原因可能是()A、大而平的缺陷与入射声束取向不良B、疏松C、晶粒粗大D、以上都是

考题 锻钢件大平底面与探测面不平行时,会产生:()A、无底面回波或底面回波降低B、难以发现平行探测面的缺陷C、声波穿透能力下降D、缺陷回波受底面回波影响

考题 垂直探伤时,工件底面倾斜能引起局部或整个地丧失底面回波。

考题 与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是()。A、回波幅度与底面反射波高度相差不大B、底面反射完全消失C、缺陷反射波高于底面回波D、底波与缺陷波同时存在

考题 直探头接触法探伤时,发现缺陷回波较低,且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈()。

考题 纵波垂直探伤时,当试件的二次底面回波显示在时基限标度5上时,则一次底面回波和三次底面回波应显示于时基限标度()上。A、2.5和7.5B、3和7C、2和8

考题 斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波

考题 在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因()。A、可能是疏松B、可能是大晶粒C、可能是大而平的缺陷与入射声束取向不良D、上述三种都可能

考题 厚度为600mm的铝试件,用直探头测得一回波的传播时间为165μs,若纵波在铝中声速为6300m/s则此回波是()A、底面回波B、底面二次回波C、缺陷回波D、迟到回波

考题 检验工件时若无缺陷波显示,工作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因可能是什么?

考题 单选题斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。A 没有底面回波B 有底面回波C 有大型缺陷回波时底面回波消失D 有大型缺陷回波时有底面回波

考题 单选题JB/T8467-96标准规定:底波降低量BG/BF(db)中的BF表示()A 缺陷回波高度B 底面回波高度C 有缺陷处的底面回波高度D 以上都是

考题 单选题锻钢件大平底面与探测面不平行时,会产生:()A 无底面回波或底面回波降低B 难以发现平行探测面的缺陷C 声波穿透能力下降D 缺陷回波受底面回波影响

考题 单选题在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因可能是()A 在而平的缺陷与入射声束取向不良B 疏松C 大晶粒D 上述三种都可能引起这种情况

考题 单选题纵波垂直探伤时,当试件的二次底面回波显示在时基限标度5上时,则一次底面回波和三次底面回波应显示于时基限标度()上。A 2.5和7.5B 3和7C 2和8

考题 单选题在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因()。A 可能是疏松B 可能是大晶粒C 可能是大而平的缺陷与入射声束取向不良D 上述三种都可能

考题 单选题JB/T8467-96标准规定:底波降低量BG/BF(db)中的BG表示()A 底面回波高度B 有缺陷处的底面回波高度C 无缺陷处的底面回波高度D 缺陷回波高度

考题 问答题检验工件时若无缺陷波显示,工作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因可能是什么?

考题 单选题斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()A 没有底面回波B 有底面回波C 有大型缺陷回波,底面回波消失D 缺陷回波和底面回波同时存在