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扫描电镜中做形貌观察主要是用（）和（），扫描电镜若带有能谱（E.D.S）则可运用特征X射线做（）。

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考题 对样品进行表面形貌分析时应使用()。A、X射线衍射(XRD)B、透射电镜(TEM)C、扫描电镜(SEM)
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考题 扫描电镜的表面形貌衬度是采用背散射电子形成的电子像。()
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考题 SEM法又称为扫描电镜形貌分析法，属于相对测年法，所测样品为断层泥中的( )。A.方解石 B.斜长石 C.角闪布 D.石英
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考题 为什么透射电镜和扫描电镜对样品厚度与大小的要求有如此大的差异？能否用扫描电镜来观察样品的内部结构，而用透射电镜来观察样品的表面结构？
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考题 将试验机夹头部分推入扫描电镜的电子腔中时，需要注意（）。A、不要用力过大、过猛B、限位销将试验机定位，使试件在扫描电镜的观察区域内C、小心试验机夹头撞到电子腔的其它部件
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考题 扫描电镜的主要作用是进行显微形貌分析和确定成分分布。（）
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考题 扫描电镜中观察到的断口形貌有什么特点？
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考题 人眼可直接通过扫描电镜的目镜观察到图像。
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考题 扫描电镜由（）、（）、（）、（）、（）（）组成。
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考题 使用免疫荧光显微镜观察细胞结构需要（）A、特异的抗体B、扫描电镜C、带有一定波长过虑镜片的光镜D、荧光试剂E、透射电镜
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考题 关于冷冻割断技术，下列哪项有误（）A、用该技术所制标本可在扫描电镜下观察细胞的内部构造B、生物样品在割断前须经固定和液氮的快速冷冻处理C、是电镜样品制备技术的一种D、细胞经割断后可直接在扫描电镜下观察E、可获得细胞内各种细胞器的立体形貌
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考题 扫描电镜术观察到的是（），透射电镜技术观察到的是（）。
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考题 SEM法又称为扫描电镜形貌分析法，属于相对测年法，所测样品为断层泥中的（）。A、方解石B、斜长石C、角闪布D、石英
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考题 射击残留物目前最具有特效性的检验方法是用扫描电镜/能谱技术检验底火残留物颗粒。（）
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考题 下列用于确定成藏时间的储层测试分析技术是（）A、流体包裹体分析B、荧光显微镜彩色图像分析C、扫描电镜能谱图像分析D、有机岩石学分析
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考题 用扫描电镜对样品或试件进行观察时，样品需要做的处理有（）。A、清洗样品B、不导电的样品和试件需要喷镀金膜C、样品和试件处理好以后勿用手再触摸
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考题 单选题SEM法又称为扫描电镜形貌分析法，属于相对测年法，所测样品为断层泥中的（　　）。A 方解石B 斜长石C 角闪布D 石英碎砾
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考题 单选题SEM法又称为扫描电镜形貌分析法，属于相对测年法，所测样品为断层泥中的（）。A 方解石B 斜长石C 角闪布D 石英
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考题 单选题扫描电镜的衬度不包括（）A 形貌衬度B 原子序数衬度C 电压衬度D 相位衬度
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考题 问答题请简述透射电镜与扫描电镜进行形貌成像时的差别。
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考题 问答题指出下列叙述中的错误，并予以改正：“对材料AmBn的研究方法是：用X射线衍射仪器对材料进行含量及显微组织形貌的测定；用扫描电镜对材料进行物相分析，确定其晶体学参数；用透射电镜对材料界面、结合组态进行测试分析”。
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考题 多选题将试验机夹头部分推入扫描电镜的电子腔中时，需要注意（）。A不要用力过大、过猛B限位销将试验机定位，使试件在扫描电镜的观察区域内C小心试验机夹头撞到电子腔的其它部件
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考题 填空题扫描电镜术观察到的是（），透射电镜技术观察到的是（）。
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考题 多选题在扫描电镜分析中（）A成分像能反映成分分布信息，形貌像和二次电子像反映形貌信息B所有扫描电镜像，只能反映形貌信息C形貌像中凸尖和台阶边缘处最亮，平坦和凹谷处最暗D扫描电镜分辨率比透射电镜高
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考题 单选题关于冷冻割断技术，下列哪项有误（）A 用该技术所制标本可在扫描电镜下观察细胞的内部构造B 生物样品在割断前须经固定和液氮的快速冷冻处理C 是电镜样品制备技术的一种D 细胞经割断后可直接在扫描电镜下观察E 可获得细胞内各种细胞器的立体形貌
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考题 单选题表面形貌分析的手段包括（）A X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）B SEM和透射电镜（TEM）C 波谱仪（WDS）和X射线光电子谱仪（XPS）D 扫描隧道显微镜（STM）和SEM
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考题 判断题人眼可直接通过扫描电镜的目镜观察到图像。A 对B 错
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