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问答题
指出下列叙述中的错误，并予以改正：“对材料AmBn的研究方法是：用X射线衍射仪器对材料进行含量及显微组织形貌的测定；用扫描电镜对材料进行物相分析，确定其晶体学参数；用透射电镜对材料界面、结合组态进行测试分析”。
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考题
标准物质的用途是A、校准仪器、评价测量方法、确定材料的量值B、校准仪器、评价实验技能、传递量值C、评价测定方法、样品测定的标准对照物D、评价测定方法、校准仪器、质量控制样品E、用标准溶液的配制
考题
对自然伽马测井叙述错误的是()。
A、不同的岩石自然伽马射线强度不同B、用仪器可测得自然伽马射线强度随井半径的变化曲线C、自然伽马曲线主要用于划分岩性D、也可用于对比地层，确定地层中的泥质含量
考题
对不同射线，屏蔽材料选取顺序是X射线（）；中子（）；电子（）.A、用铅和水泥；用石蜡和水；用铝网B、用铅和铝网；用石蜡和水；用水泥C、用铅和水；用石蜡和铝网；用水泥D、用石蜡和水；用铝网和水泥；用铅
考题
问答题实验室有X射线衍射仪器，扫描电镜，电子探针、透射电镜、X射线光电子能谱仪和差示扫描量热仪等测试仪器，现对非晶块体材料AmBn进行分析： （a）AmBn热稳定性分析； （b）结构分析； （c）物相分析。 试确定实验方案，并指出分析目的。
考题
问答题有一种未知多晶材料，请用所学的材料近现代分析测试技术（X射线衍射技术，扫描电镜和透射电镜分析技术），提出材料组成，组织结构分析的可行方案；并简述采用X射线衍射技术对样品进行定性相分析的原理及步骤。
考题
单选题表面形貌分析的手段包括（）A
X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）B
SEM和透射电镜（TEM）C
波谱仪（WDS）和X射线光电子谱仪（XPS）D
扫描隧道显微镜（STM）和SEM
考题
问答题宏观应力对X射线衍射花样的影响是什么？衍射仪法测定宏观应力的方法有哪些？
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