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对样品进行表面形貌分析时应使用()。
A、X射线衍射(XRD)
B、透射电镜(TEM)
C、扫描电镜(SEM)
参考答案
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考题
2、表面形貌分析的手段包括()。A.X 射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)B.SEM 和透射电镜(TEM)C.波谱仪(WDS)和 X 射线光电子谱仪(XPS)D.扫描隧道显微镜(STM)和SEM
考题
下列说法正确的是()。A.TEM,接收透射电子,观察样品的形貌、结构、粒径。B.SEM,可接收二次电子、背散射电子观察形貌、成分。C.TEM要求样品非常薄。SEM要求样品具有良好导电性。D.EDS,可作为透射电镜和扫描电镜的附件使用,分析样品的成分。
考题
介孔材料的性质表征包括两个部分,即骨架部分和孔道部分,下列是对孔道进行表征的是()。A.SEM获得材料的形貌B.TEM表征结构C.HRTEM表征孔的尺寸和形状D.粉末X-射线衍射(XRD)表征化学组成
考题
13、使用X射线衍射仪测试,只有平行于样品表面的晶面的衍射线才能被接收到。
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