考题
一般通用内径千分尺刻线方向与外径千分尺刻线方向()。
A、相同B、相反C、相同或相反D、相交
考题
测量前,对好“0”位,正确的零位是:当千分尺两测量面接触时,微分筒棱边接触固定套管零刻线,固定套管上的()对准微分筒上零刻线。
A.纵刻线B.零位C.横刻线D.刻线
考题
内径千分尺刻线方向与外径千分尺刻线方向( )。A.相同B.相反C.相同或相反
考题
无法用调试的方法消除千分尺轴向窜动时，必须修磨千分尺的（）A、测杆B、测量C、测力D、螺杆
考题
接触线架设时，接触线悬挂在承力索与腕臂上，每一跨需要至少加装（）S钩，S钩与接触线接触部分需要加装保护套，防止磨伤接触线。A、1个B、2个C、3个D、4个
考题
校正扳手主要用于接触线面的整正，防止接触线偏磨。
考题
内径千分尺的刻线方向，与外径千分尺的刻线方向（）A、相同B、相反C、平行
考题
磨料的粗细用粒度表示，颗粒尺寸很小的磨粒或微粉状一般用（）测量。A、千分尺测B、筛网分C、测微仪D、显微镜
考题
对于0~25mm的千分尺，测量前应将两测量面接触，活动套筒上的零刻度线应与固定套筒上的零刻线对齐。
考题
内径千分尺刻线方向与外径千分尺刻线方向（）。A、相同B、相反C、水平
考题
内径千分尺的刻线方向与外径千分尺的刻线方向相反。
考题
下列哪种千分尺不存在（）。A、公线法千分尺B、千分尺C、内径千分尺D、轴承千分尺
考题
磨料的粗细用粒度表示，颗粒尺寸大于50的磨粒，用（）方法测定。A、显微镜B、测微仪C、筛网分D、千分尺测
考题
内径千分尺的刻线方向与外径千分尺刻线方向（）。A、相同B、相反C、相同或相反
考题
接触线发生偏磨后，其后果是什么（）A、受电弓烧坏B、缩短使用寿命C、偏磨还易造成打弓D、断线
考题
加固货物必要时，加固线与货物，车辆棱角接触处应采取防磨措施。
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
考题
凸轮机构是高副机构，两构件接触为（）。A、线接触或面接触B、面接触C、点接触或线接触D、点接触或面接触
考题
内径千分尺刻线方向与外径千分尺刻线方向（）。A、相同B、相反C、相同或相反
考题
判断题校正扳手主要用于接触线面的整正，防止接触线偏磨。A
对B
错
考题
单选题一般通用内径千分尺刻线方向与外径千分尺刻线方向（）。A
相同B
相反C
相同或相反D
相交
考题
单选题无法用调试的方法消除千分尺轴向窜动时，必须修磨千分尺的（）A
测杆B
测量C
测力D
螺杆
考题
多选题接触线发生偏磨后，其后果是什么（）A受电弓烧坏B缩短使用寿命C偏磨还易造成打弓D断线
考题
配伍题正中协调，非正中不协调，应磨（ ）|正中有早接触，非正中协调，应磨（ ）|正中和非正中都存在早接触，应磨（ ）A牙尖或切缘B舌窝或窝C斜面D切缘嵴E上牙腭尖及下牙颊尖