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填空题
测量接触线磨耗用千分尺或()。

参考答案

参考解析
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考题 测量前,对好“0”位,正确的零位是:当千分尺两测量面接触时,微分筒棱边接触固定套管零刻线,固定套管上的()对准微分筒上零刻线。 A.纵刻线B.零位C.横刻线D.刻线

考题 测量拉线线径的千分尺其精度为0.001mm。

考题 杠杆千分尺的用途与外径千分尺相同,测量精度较高,可测量()或低于()的工件尺寸。

考题 无法用调试的方法消除千分尺轴向窜动时,必须修磨千分尺的()A、测杆B、测量C、测力D、螺杆

考题 接触线磨耗监测时应用()在选定监测锚段的()选1个跨距,然后在本跨距中间选()m,每()mm测量1处导磨值,并把测量位置用色漆做好标记,共计测量()处。当遇到各类线夹时,紧挨线夹测量即可。导磨测量值精确至小数点后()位数。

考题 测量完毕后,千分尺应保持干净,放置时0~25mm千分尺时两测量面之间必须()。A、紧密接触B、轻轻接触C、保持一定的间隙D、加紧一个纸片

考题 用千分尺测量轴的直径或说一下用千分尺测量轴的直径的过程。

考题 对于0~25mm的千分尺,测量前应将两测量面接触,看活动套筒上的零线是否与固定套筒上的()对齐。A、零线B、刻线C、标准线D、基准线

考题 磨料的粗细用粒度表示,颗粒尺寸很小的磨粒或微粉状一般用()测量。A、千分尺测B、筛网分C、测微仪D、显微镜

考题 对于0~25mm的千分尺,测量前应将两测量面接触,活动套筒上的零刻度线应与固定套筒上的零刻线对齐。

考题 磨料的粗细用粒度表示,颗粒尺寸很小的磨粒或微粉状一般用()测量。A、千分尺寸B、筛网分C、测微仪D、显微镜

考题 千分尺两测量面将与工件接触时,要使用(),不要直接转动微分筒。A、螺杆B、千分尺C、测力装置D、固定套管

考题 测量接触线磨耗用千分尺或()。

考题 接触线磨耗测量采用精度为()mm的()或(),测量磨损严重处的接触线残存高度。

考题 当测量外径和宽度时,()的测量平行爪应与被测仪表面的整个长度相接触,量爪平面应与被测直径垂直或平行。A、仪器B、仪表C、游标卡尺D、千分尺

考题 千分尺使用前要擦净测量面,并转动轮,使两测量面接触,检查有无空隙。

考题 用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。

考题 由于孔壁是凹圆形,用千分尺测量时不可能使测头接触孔壁,所以用千分尺测量孔距的方法只能用于精度要求低的测量。

考题 测定接触线磨耗用千分尺或()

考题 使用千分尺测量时,应保证千分尺螺杆轴线和工件中心线()。A、平行B、垂直C、倾斜

考题 填空题接触线磨耗监测时应用()在选定监测锚段的()选1个跨距,然后在本跨距中间选()m,每()mm测量1处导磨值,并把测量位置用色漆做好标记,共计测量()处。当遇到各类线夹时,紧挨线夹测量即可。导磨测量值精确至小数点后()位数。

考题 单选题无法用调试的方法消除千分尺轴向窜动时,必须修磨千分尺的()A 测杆B 测量C 测力D 螺杆

考题 填空题杠杆千分尺的用途与外径千分尺相同,测量精度较高,可测量()或低于()的工件尺寸。

考题 填空题接触线磨耗测量采用精度为()mm的()或(),测量磨损严重处的接触线残存高度。

考题 判断题千分尺使用前要擦净测量面,并转动轮,使两测量面接触,检查有无空隙。A 对B 错

考题 判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。A 对B 错

考题 填空题测定接触线磨耗用千分尺或()