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半机械半电子测量系统不能随着测量点数据的变化而及时地反映出来,需要不断反复测量不同的控制点来确定相关尺寸的正确性,操作比较繁琐,效率较低。()

此题为判断题(对,错)。


参考答案

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考题 半机械半电子测量系统随着测量点数据的变化而及时地反映出来,无需不断反复测量不同的控制点来确定相关尺寸的正确性,操作简单,效率高。( ) 此题为判断题(对,错)。

考题 半机械半电子测量系统在测量中每次只能测量一个控制点,或两个控制点之间的位置参数,不能同时测量多个控制点。() 此题为判断题(对,错)。

考题 控制测量分为平面控制测量和高程控制测量,平面控制测量确定控制点的平面位置(X,Y),高程控制测量确定控制点的高程(H)。

考题 直接为测图服务而建立的控制测量称图根控制测量,它的精度比较低,边长短,目前,图根平面控制测量可采用GNSS测量和()方法等测定。

考题 17、直接为测图服务而建立的控制测量称图根控制测量,它的精度比较低,边长短,目前,图根平面控制测量可采用GNSS测量和()方法等测定。

考题 22、实际值相对误差不能客观正确的反映测量仪表的准确度,原因在于:在测量允许范围内,随着各个测量点的测量数据逐步增大或减小,所对应的绝对误差是相近的,数据差别不大,但是各个测量点的测量值变化幅度大。

考题 实际值相对误差不能客观正确的反映测量仪表的准确度,原因在于:在测量允许范围内,随着各个测量点的测量数据逐步增大或减小,所对应的绝对误差是相近的,数据差别不大,但是各个测量点的测量值变化幅度大。