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电镜-能谱分析方法是将EDS能谱仪和扫描电镜或者透射电镜联用，在真空室下用电子束轰击样品表面，激发物质发射出特征X射线进行定性与半定量分析物质元素。
参考答案和解析
犯罪分子身上及作案工具上的微量物证和金属断口的形态观察;电击伤、爆炸残留物的形态及成分分析;印泥印文与笔划的先后顺序判别;毒物分析
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考题
问答题实验室有X射线衍射仪器，扫描电镜，电子探针、透射电镜、X射线光电子能谱仪和差示扫描量热仪等测试仪器，现对非晶块体材料AmBn进行分析： （a）AmBn热稳定性分析； （b）结构分析； （c）物相分析。 试确定实验方案，并指出分析目的。
考题
单选题扫描电镜通常是由（）六部分组成。A
电子光学系统、信息检测系统、扫描系统、真空系统、电源系统和X射线能谱仪B
电子光学系统、信息检测系统、扫描系统、信息收集系统、电源系统和γ射线能谱仪C
电子光学系统、住处采集系统、扫描系统、信息收集系统、电源系统和β射线能谱仪D
电子光学系统、信息采集系统、信息检测系统、扫描系统、电源系统和γ射线能谱仪
考题
问答题有一种未知多晶材料，请用所学的材料近现代分析测试技术（X射线衍射技术，扫描电镜和透射电镜分析技术），提出材料组成，组织结构分析的可行方案；并简述采用X射线衍射技术对样品进行定性相分析的原理及步骤。
考题
问答题指出下列叙述中的错误，并予以改正：“对材料AmBn的研究方法是：用X射线衍射仪器对材料进行含量及显微组织形貌的测定；用扫描电镜对材料进行物相分析，确定其晶体学参数；用透射电镜对材料界面、结合组态进行测试分析”。
考题
单选题表面形貌分析的手段包括（）A
X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）B
SEM和透射电镜（TEM）C
波谱仪（WDS）和X射线光电子谱仪（XPS）D
扫描隧道显微镜（STM）和SEM
考题
填空题在高分子常用的研究方法和分析仪器中：IR是指（）；NMR是指核磁共振谱分析；SAXS是指小角X射线分析；GC-MS是指色-质普联用仪；DSC是指差示扫描量热仪；TG是指热重分析；DMA是指动态粘弹谱仪；SEM是指扫描电镜分析；TEM是指透射电镜分析.
考题
单选题用于透射电镜分析的样品，不满足的条件有（）A
试样最大尺寸不超过0.5mmB
100kv以上的透镜，样品厚度不超过0.1-2000nmC
样品中不得含有水分、易挥发物质及带有酸碱性的和任何具有腐蚀性的物质D
化学稳定性好，在电子束轰击下，不损坏，不荷电，样品必须非常清洁，切忌尘埃、棉花纤维、金属屑等物的污染
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