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当过程处于统计控制状态时,( )。

A.才能进行短期过程能力分析

B.过程输出特性值总是在一定的范围内波动

C.过程输出是可预测的

D.过程中存在特殊因素的影响

E.控制图上没有呈现出失控状态


参考答案

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考题 过程能力指数Cp小于1.0表示( )。A.过程能力不足B.应该进过程C.应减少过程输出特性的表差D.过程未处于统计控制状态E.理论小过程中心和技术中心的偏移量

考题 关于技术控制状态和统计控制状态的说法,正确的有( )。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列,则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c,E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态

考题 从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是( )。A.过程处于统计控制状态B.具有足够的生产能力C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D.过程处于统计控制状态但过程能力不足

考题 根据计算得到的控制限和描点值绘制分析用控制图,判断过程处于统计控制状态,下一步需进行过程能力分析,查表得到,n=5时c4=0.94,计算得到的过程能力指数Cpk为( )A.0B.1.57C.1.67D.3.14

考题 关于统计控制状态与失控状态的说法,正确的有( )。 A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态 B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态 C.在统计控制状态下,过程的波动达到最小,不可能再改进 D.过程处于失控状态时,无法估计过程能力 E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判定过程处于统计控制状态

考题 关于过程状态的说法,正确的有( )。 A.在统计控制状态下,可以预测过程波动的大小 B.当过程处于失控状态时,过程的分布将发生改变 C.过程处于统计控制状态时,CP≥1 D.异常因素会导致过程失控 E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判断过程一定处于统计控制状态

考题 A.过程能力不足 B.应改进过程 C应减小过程输出特性的标准差 D.过程未处于统计控制状态 E.应减小过程中心和技术中心的偏移量

考题 关于技术控制状态和统计控制状态的说法,正确的有( )。 A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态 B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列,则过程达到统计控制状态 C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态 D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数Cp E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态

考题 过程能力反映了()时所表现出的过程自身的性能。A.过程处于运转最佳状态B.过程处于正常运转状态C.过程处于统计控制状态D.过程处于非受控运转状态