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题目内容
（请给出正确答案）
从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（ ）。
A.过程处于统计控制状态
B.具有足够的生产能力
C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力
D.过程处于统计控制状态但过程能力不足
参考答案
更多 “ 从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（ ）。A.过程处于统计控制状态B.具有足够的生产能力C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D.过程处于统计控制状态但过程能力不足 ” 相关考题
考题
分析用控制图主要分析内容有( )。A．该过程的不合格品率B．该过程的能力指数是否符合规定要求(也称技术稳态)C．所分析的过程是否处于统计控制状态(也称统计稳态)D．所分析的过程是否满足顾客要求E．分析过程的合格品率
考题
控制用控制图的主要作用是( )。A.实时分析数据,监视过程运行状态B.替代抽样检验SXB
控制用控制图的主要作用是（ ）。A.实时分析数据，监视过程运行状态B.替代抽样检验C.分析过程是否处于统计控制状态D.剔除不合格品
考题
根据上述计算结果，判断过程（ ）。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
使用控制用均值一极差控制图监控过程时，若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外，则（ ）。A.需要重新计算控制限B.该子组中一定有不合格品C.可判定过程处于统计失控状态D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设、
考题
关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
考题
关于统计控制状态的谫法，正确的有（ ）。A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态D.统计控制状态是指过程能力充足的状态E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
考题
关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于１C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的
考题
关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。
A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态
考题
绘制分析用控制图阶段的主要工作有（ ）。
A.分析过程是否处于统计控制状态
B.分析过程是否存在偶然波动
C.实时分析数据，监控过程长期运行状态
D.分析过程的过程能力指数是否满足要求
E.分析过程合格率低的原因
考题
加工一种轴承，其规格为（10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。
下列推断中，正确的是（ ）。
A.过程处于统计控制状态和技术控制状态
B.过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
关于过程状态的说法，正确的有（ ）。
A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小
B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变
C.过程处于统计控制状态时，CP≥1
D.异常因素会导致过程失控
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态
考题
分析用控制图主要分析内容有（ ）。A.该过程的不合格品率
B.该过程的能力指数是否满足要求（也称技术稳态）
C.所分析的过程是否处于统计控制状态（也称统计稳态）
D.所分析的过程是否满足顾客要求
E.分析过程的合格品率
考题
下列有关统计过程控制（SPC）的叙述，恰当的有（ ）。
A.统计过程控制是为了贯彻预防性原则
B.统计过程控制是为了贯彻谨慎性原则
C.统计过程控制应用统计技术对过程中的各个阶段进行评估和监控
D. SPC中的主要工具是控制图
E. SPC可以判断过程的异常，及时预警
考题
加工一种轴承，其规格为10±0.08mm，要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：
μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。
根据上述计算结果，判断过程（）。
A.处于统计控制状态和技术控制状态
B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A、过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
单选题从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（ ）。[2006年真题]A
过程处于统计控制状态B
具有足够的生产能力C
过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D
过程处于统计控制状态但过程能力不足
考题
单选题以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A
过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B
过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C
过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D
过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
单选题加工一种轴承，其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到： μ=10.04mm，σ=0.02mm 根据以上材料，回答：下列论述正确的是（）。A
过程处于统计控制状态和技术控制状态B
过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态C
过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态D
过程未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
单选题从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。A
过程处于统计控制状态B
具有足够的生产能力C
过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D
过程处于统计控制状态但过程能力不足
考题
问答题统计质量管理中所采用的SPC方法从探测质量问题的角度上看具有什么显着特点？
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