考题
下列情况中,不属系统误差的是 :()
A.指示剂提前变色;B.重量法测定 SiO 2 ，试样中硅酸沉淀不完全;C.称量时试样吸收了水分;D.蒸馏水中含有杂质
考题
蒸馏水中含有杂质在测量中属于（）误差。A.仪器误差B.方法误差C.试剂误差D.主观误差
考题
下列误差属于偶然误差的是()。
A、砝码稍有腐蚀B、试剂中含有少量的杂质量C、滴定管读数有很小的误差D、蒸馏水中含有少量的杂质
考题
由于天平砝码被腐蚀造成的称量误差属于偶然误差。此题为判断题(对，错)。
考题
分析过程中由于称量时试样吸收空气中的水分或砝码腐蚀所产生的误差是________误差。A.系统误差B.偶然误差C.过失误差
考题
采用什么方法和装置，可除去下列各物质中的少量杂质：
（1）二氧化碳气体中含有少量氯化氢、水蒸气．
（2）氯气中含有少量氯化氢气体．
考题
由于天平砝码被腐蚀造成的称量误差属于偶然误差。A对B错
考题
分析测定出现以下情况，何种属于系统误差（）。A、砝码读错B、所用蒸馏水中含有干扰离子C、试样未经充分摇匀D、称取溶液时，有液滴丢失
考题
下列情况中，属于系统误差的是（）。A、指示剂提前变色B、重量法测定SiO2，试样中硅酸沉淀不完全C、称量时试样吸收了水分D、蒸馏水中含有杂质
考题
下列情况中，不属系统误差的是（）A、指示剂提前变色B、称量时试样吸收了水分C、蒸馏水中含有杂质
考题
属于偶然误差的是（）A、所用蒸馏水含有杂质B、所用容量瓶、移液管没有校正C、硅码稍有腐蚀D、称量时使试样吸潮
考题
蒸馏水中含有杂质，在测量中属于（）误差。A、仪器误差B、方法误差C、试剂误差D、主观误差
考题
试剂中含有杂质所造成的分析误差称为（）。A、偶然误差B、相对误差C、绝对误差D、系统误差
考题
为除处AgNO3中含有的少量Cu（NO3）2杂质，可以采取（）。
考题
测定时，若所用辅助试剂中含有少量待测组分时，将导致偶然误差。
考题
试剂中含有杂质所造成的误差称为（）A、偶然误差B、相对误差C、绝对误差D、系统误差
考题
称量时发现砝码已被腐蚀，此情况引起的误差属于偶然误差。
考题
下列情况引起的误差属于偶然误差的有（）。A、砝码腐蚀B、试剂中含有微量待测组分C、重量法测定SiO2时，试液中硅酸沉淀不完全D、样品称量过程中，环境温度和湿度微量波动
考题
由于天平砝码被腐蚀造成的称量误差属于偶然误差。
考题
下列测定中产生的误差，（）属于偶然误差。A、过滤时使用了定性滤纸，最后灰分加大B、滴定管读数时，最后一位估计不准C、试剂中含有少量的被测组分D、滴定分析中，反应进行不完全。
考题
下列情况中，不属系统误差的是:（）A、指示剂提前变色；B、重量法测定SiO2，试样中硅酸沉淀不完全；C、称量时试样吸收了水分；D、蒸馏水中含有杂质
考题
分析过程中由于称量时试样吸收空气中的水分或砝码腐蚀所产生的误差是（）误差。A、系统误差B、偶然误差C、过失误差
考题
单选题分析检验中可能产生偶然误差的是（）。A
过滤时使用了定性滤纸B
试剂中含有少量的被测组分C
用单标线吸管转移溶液时管端残留量稍有不同
考题
单选题下列情况中，不属系统误差的是:（）A
指示剂提前变色；B
重量法测定SiO2，试样中硅酸沉淀不完全；C
称量时试样吸收了水分；D
蒸馏水中含有杂质
考题
单选题属于偶然误差的是（）A
所用蒸馏水含有杂质B
所用容量瓶、移液管没有校正C
硅码稍有腐蚀D
称量时使试样吸潮
考题
判断题由于天平砝码被腐蚀造成的称量误差属于偶然误差．A
对B
错