考题
()是原子吸收光谱分析中的主要干扰因素。A、化学干扰B、物理干扰C、光谱干扰D、火焰干扰
考题
化学干扰是原子吸收光谱分析中的主要干扰因素。()
此题为判断题(对，错)。
考题
光谱分析中的干扰主要包括()干扰,谱线重叠干扰及空白干扰。
考题
ICP-AES法测定水中多元素时，消除（）最简单的方法是将样品稀释。A、物理干扰B、化学干扰C、电离干扰
考题
原子吸收光谱分析中，塞曼效应法是用来消除（）。A、化学干扰B、物理干扰C、电离干扰D、背景干扰
考题
ICP法进行样品测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离干扰
考题
原子吸收光谱分析中的干扰主要有（）A、化学干扰B、基体干扰C、光谱干扰D、电离干扰
考题
什么是原子吸收光谱分析中的化学干扰？用哪些方法可消除此类干扰？
考题
在原子吸收光谱分析中，有哪些消除化学干扰的方法？
考题
在X射线荧光光谱分析法中，除存在谱线重迭干扰外还存在（）干扰。
考题
化学干扰是原子吸收光谱分析中的（）干扰。A、比对线B、主要C、放大器D、检测线
考题
ICP-AES法测定多元素时，在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，可抑制或消除。A、物理干扰B、化学干扰C、电离干扰
考题
ICP-AES法测定水中多元素时，消除最简单的方法是将样品稀释。（）A、物理干扰B、化学干扰C、电离子干扰
考题
ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离子干扰
考题
在原子吸收光谱分析中，塞曼效应用来消除（）A、物理干扰B、背景干扰C、化学干扰D、电离干扰
考题
咬合干扰表现为（）。A、前伸干扰B、非干扰侧干扰C、ICP干扰D、工作侧干扰E、后退干扰
考题
ICP-AES法存在的主要干扰有（）、（）、（）、（）和（）。
考题
极性溶剂对荧光的光谱干扰最小，荧光光谱分析中的主要光谱干扰是（）
考题
原子吸收光谱分析中的化学干扰是如何产生的？如何消除？
考题
问答题原子吸收光谱分析中的化学干扰是如何产生的？如何消除？
考题
单选题ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A
光谱干扰B
化学干扰C
电离干扰
考题
问答题什么是原子吸收光谱分析中的化学干扰？用哪些方法可消除此类干扰？
考题
多选题原子吸收光谱分析中的干扰主要有（）A化学干扰B基体干扰C光谱干扰D电离干扰
考题
填空题极性溶剂对荧光的光谱干扰最小，荧光光谱分析中的主要光谱干扰是（）
考题
单选题ICP-AES法测定多元素时，在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，可抑制或消除（）。A
物理干扰B
化学干扰C
电离干扰
考题
单选题在原子吸收光谱分析中，塞曼效应用来消除（）A
物理干扰B
背景干扰C
化学干扰D
电离干扰
考题
单选题ICP-AES法测定水中多元素时，消除（）最简单的方法是将样品稀释。A
物理干扰B
化学干扰C
电离干扰