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介质损耗tanδ主要反映设备绝缘的集中性缺陷。


参考答案

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考题 下列缺陷中,介质损耗所不能反映的缺陷是()。 A、绝缘受潮B、绝缘脏污C、绝缘部分击穿D、绝缘中存在气隙放电

考题 对于套管绝缘,介质损耗测试不仅可以反映套管绝缘的全面情况,而且有时可以检查出其中的集中性缺陷,因此是一项必不可少的有效试验。

考题 能有效判别设备绝缘中的一些集中性缺陷的试验方法是()。A测量tanB测量吸收比C测量泄漏电流D测量绝缘电阻

考题 当绝缘介质一定,外加电压一定时,介质损耗电流IR的大小与介质损耗正切值tanδ成正比。A对B错

考题 介质损耗角正切值tanδ对局部集中缺陷不太灵敏时,一般将设备进行分解试验。A对B错

考题 在绝缘试验时,通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。A对B错

考题 当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。A对B错

考题 变压器绕组绝缘介质损耗因数与()比较变大或者变小可能是缺陷的反映。

考题 在绝缘试验时,通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。

考题 当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。

考题 可以用介质损耗正切值来表示介质损耗的大小,通过测量介质损耗正切值,可以发现()等绝缘缺陷,是判定绝缘好坏的一项重要数据.A、绝缘受潮缺陷B、贯通性绝缘缺陷C、绝缘老化缺陷D、绝缘气隙放电缺陷

考题 介质损耗角正切值tanδ对局部集中缺陷不太灵敏时,一般将设备进行分解试验。

考题 当绝缘介质一定,外加电压一定时,介质损耗电流IR的大小与介质损耗正切值tanδ成正比。

考题 tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。

考题 在一般情况下,介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。

考题 介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。

考题 电气设备绝缘下列说法正确的是()A、在绝缘受潮和有缺陷时,泄漏电流要增加B、在绝缘中有大量气泡、杂质和受潮的情况,将使夹层极化加剧,极化损耗要增加C、介质损耗值既反映了绝缘本身的状态,又可反映绝缘由良好状况向劣化状况转化的过程D、温度升高电气设备的泄漏电流增大

考题 在一般情况下,介质损耗试验主要反映设备的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏

考题 当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应()。A、不够灵敏B、较灵敏C、与整体分布性缺陷具有同样的灵敏度

考题 当绝缘介质一定,外加电压一定时,介质损耗电流IR的大小与介质损耗正切值tanδ成()。A、反比B、正比C、U形曲线比例关系

考题 单选题当绝缘介质一定时,外加电压一定时,介质损耗电流Ir的大小与介质损耗正切值tanδ成()A 反比B 正比C U形曲线比例关系

考题 判断题介质损耗角正切值tanδ对局部集中缺陷不太灵敏时,一般将设备进行分解试验。A 对B 错

考题 判断题在绝缘试验时,通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。A 对B 错

考题 判断题介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。A 对B 错

考题 判断题当绝缘介质一定,外加电压一定时,介质损耗电流IR的大小与介质损耗正切值tanδ成正比。A 对B 错

考题 判断题当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。A 对B 错

考题 判断题在一般情况下,介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。A 对B 错