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介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。


参考答案

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考题 各种以作为油绝缘介质的电气设备,一旦出现绝缘介质劣化或进水受潮,都会因()增加而发热。 A.电阻损耗B.介质损耗C.线路损耗D.材质损耗

考题 当整个绝缘普遍劣化,大面积受潮时,有效的试验判断方法是( )。A.测泄漏电流 B.测直流电阻 C.测介质损耗因数 D.测绝缘电阻

考题 通过测量介质损耗角正切值可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。A对B错

考题 空载电流和空载损耗对于发现()、绕组变形、匝间绝缘缺陷以及分接开关缺陷等比较有效。A、铁心结构B、油质劣化C、绝缘老化D、绝缘受潮

考题 测量介质损耗因数,通常不易发现()。A、整体受潮B、绝缘油劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

考题 测量介质损耗 数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

考题 对运用中的悬式绝缘子串劣化绝缘子的检出测量,不应选用()的方法。A、测量电位分布B、火花间隙放电叉C、热红外检测D、测量介质损耗因数tgδ

考题 以油绝缘介质的电气设备,一旦出现绝缘介质劣化或进水受潮,都会因()增加而发热。A、电阻损耗;B、介质损耗C、线路损耗;D、材质损耗。

考题 测介质损耗因数tgδ不能有效发现的绝缘缺陷是()A、穿透性导电通道B、降绝缘内含气泡的电离C、受热D、绝缘油脏污、劣化

考题 通过测量介质损耗角正切值可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。

考题 当整个绝缘普遍劣化,大面积受潮时,有效的试验判断方法是()。A、测泄漏电流B、测直流电阻C、测介质损耗因数D、测绝缘电阻

考题 在一般情况下,介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。

考题 测量介质损耗因数,通常能发现的设备绝缘缺陷是()。A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

考题 引起绝缘电介质材料介质损耗增大的主要原因包括:固体绝缘材料材质不佳或老化,液体绝缘介质性能劣化、受潮以及绝缘介质本身的()。A、物理变化;B、化学变化;C、负荷变化;D、温度变化

考题 绝缘预防性试验中,tgδ的数值偏大很多,说明绝缘受潮或劣化。

考题 电气设备绝缘下列说法正确的是()A、在绝缘受潮和有缺陷时,泄漏电流要增加B、在绝缘中有大量气泡、杂质和受潮的情况,将使夹层极化加剧,极化损耗要增加C、介质损耗值既反映了绝缘本身的状态,又可反映绝缘由良好状况向劣化状况转化的过程D、温度升高电气设备的泄漏电流增大

考题 介损tgδ不能发现的缺陷有()。A、整体受潮B、劣化C、大体积绝缘的集中性缺陷D、小体积绝缘的集中性缺陷

考题 通过测量()可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。A、电感B、电容C、介质损耗角正切值

考题 为什么说测量电气设备的介质损耗因数tgδ,对判断设备绝缘的优劣状况具有重要意义?

考题 测量介质损耗因数,对发现以下哪些缺陷较为有效?()A、整体受潮B、绝缘油劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

考题 单选题对运用中的悬式绝缘子串劣化绝缘子的检出测量,不应选用()的方法。A 测量电位分布B 火花间隙放电叉C 热红外检测D 测量介质损耗因数tgδ

考题 单选题测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()A 整体受潮B 整体劣化C 小体积试品的局部缺陷D 大体积试品的局部缺陷

考题 单选题下列缺陷不能由测量介质损耗角正切发现的是()。A 整体受潮B 全面老化C 绝缘油脏污劣化D 大容量设备的局部缺陷

考题 判断题介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。A 对B 错

考题 单选题当整个绝缘普遍劣化,大面积受潮时,有效的试验判断方法是()。A 测泄漏电流B 测直流电阻C 测介质损耗因数D 测绝缘电阻

考题 判断题通过测量介质损耗角正切值可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。A 对B 错

考题 单选题测量介质损耗 数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()A 整体受潮B 整体劣化C 小体积试品的局部缺陷D 大体积试品的局部缺陷