网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:

题目内容 (请给出正确答案)

减小尺寸逐渐变化产生的显示而保留缺陷产生的显示的一种方法是()

  • A、在涡流试验仪器中加入一个高通滤波器;
  • B、在涡流试验仪器中加入一个低通滤波器;
  • C、增大放大器的通带宽度;
  • D、采用阻抗试验方法.

参考答案

更多 “减小尺寸逐渐变化产生的显示而保留缺陷产生的显示的一种方法是()A、在涡流试验仪器中加入一个高通滤波器;B、在涡流试验仪器中加入一个低通滤波器;C、增大放大器的通带宽度;D、采用阻抗试验方法.” 相关考题
考题 利用铁磁性材料表面与近表面缺陷会引起磁率发生变化,磁化时在表面上产生漏磁场,并采用磁粉、磁带或其他磁场测量方法来记录与显示缺陷的方法叫作( )。 AMTBPTCUTDRT

考题 下列哪一条不适用于所有的渗透检测方法()。A、渗透液必须渗入缺陷中以形成显示B、在黑光照射下,显示发光C、表面细小缺陷需要较长的渗透时间D、如果将缺陷中的渗透液去除掉,便不会产生显示

考题 相关显示是由缺陷产生的漏磁场吸附磁粉形成的,非相关显示不是由漏磁场产生的。

考题 露出表面的缺陷产生的显示:()A、清晰和明显B、宽而不清晰C、转折交错D、高和模糊

考题 显像剂显示的缺陷图象尺寸比缺陷真实尺寸要小。

考题 如果可见的栅格间距设置得太小,AutoCAD将出现()提示。A、不接受命令B、产生【栅格太密无法显示】信息C、产生错误显示D、自动调整栅格尺寸使其显示出来

考题 磁粉探伤是根据漏磁场原理而达到()缺陷的目的。A、弥补B、减小C、显示D、修复

考题 渗透检测产生的显示,通常与形成这个显示的缺欠尺寸和形状特征不同。

考题 表面缺陷一般会产生尖锐、清晰的图像显示,但()缺陷产生的图像显示则不如表面开口缺陷清晰

考题 缺陷尺寸的精确估计()A、与显示的浓淡有关B、与显示的宽窄有关C、与显示形成的速度有关D、没有一定方法能达到精确估计

考题 下列关于超标缺陷磁痕显示处理的方法中,正确的说法是()。A、一旦发现超标缺陷磁痕显示,就应进行打磨清除B、打磨后的缺陷应及时进行补焊,以防焊接应力产生新的缺陷C、对发现的超标缺陷清除后,还应用磁粉方法进行复检D、超标缺陷清楚前应进行退磁,以防焊接过程中产生新的缺陷

考题 一般说来,试件表面状态例如表面缺陷,产生的显示是()成分,试件尺寸及材质变化产生的显示是().

考题 一般把最大尺寸与最小尺寸之比大于3的缺陷显示称为()A、圆形显示B、线形显示C、椭圆显示D、不规则显示

考题 当磁场方向与缺陷延伸方向平行时(),发现不了缺陷。A、产生强磁痕显示B、产生弱磁痕显示C、不产生磁痕显示D、模糊的磁痕显示

考题 厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的()。

考题 磁力线与缺陷的破裂面()不产生磁痕显示。

考题 利用铁磁性材料表面与近表面缺陷会引起磁率发生变化,磁化时在表面上产生漏磁场,并采用磁粉、磁带或其他磁场测量方法来记录与显示缺陷的方法叫作()。

考题 判断题相关显示是由缺陷产生的漏磁场吸附磁粉形成的,非相关显示不是由漏磁场产生的。A 对B 错

考题 单选题露出表面的缺陷产生的显示:()A 清晰和明显B 宽而不清晰C 转折交错D 高和模糊

考题 单选题下列哪一条不适用于所有的渗透检测方法()。A 渗透液必须渗入缺陷中以形成显示B 在黑光照射下,显示发光C 表面细小缺陷需要较长的渗透时间D 如果将缺陷中的渗透液去除掉,便不会产生显示

考题 填空题利用铁磁性材料表面与近表面缺陷会引起磁率发生变化,磁化时在表面上产生漏磁场,并采用磁粉、磁带或其他磁场测量方法来记录与显示缺陷的方法叫作()。

考题 单选题一般把最大尺寸与最小尺寸之比大于3的缺陷显示称为()A 圆形显示B 线形显示C 椭圆显示D 不规则显示

考题 判断题渗透检测产生的显示,通常与形成这个显示的缺欠尺寸和形状特征不同。A 对B 错

考题 填空题一般说来,试件表面状态例如表面缺陷,产生的显示是()成分,试件尺寸及材质变化产生的显示是().

考题 填空题表面缺陷一般会产生尖锐、清晰的图像显示,但()缺陷产生的图像显示则不如表面开口缺陷清晰

考题 单选题当磁场方向与缺陷延伸方向平行时(),发现不了缺陷。A 产生强磁痕显示B 产生弱磁痕显示C 不产生磁痕显示D 模糊的磁痕显示

考题 单选题下列关于超标缺陷磁痕显示处理的方法中,正确的说法是()。A 一旦发现超标缺陷磁痕显示,就应进行打磨清除B 打磨后的缺陷应及时进行补焊,以防焊接应力产生新的缺陷C 对发现的超标缺陷清除后,还应用磁粉方法进行复检D 超标缺陷清楚前应进行退磁,以防焊接过程中产生新的缺陷