考题
锻件超声波探伤中,荧光屏上出现“淋状波”时,是由于()。
A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现”林状(丛状)波“时，是由于()A.工件中有小而密集缺陷
B.工件材料中有局部晶粒粗大区域
C.工件中有疏松缺陷
D.以上都有可能
考题
锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起()A.底波降低或消失
B.有较高的”噪声“显示
C.使声波穿透力降低
D.以上全部
考题
锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？()A.边缘效应
B.工件形状及外形轮廓
C.迟到波
D.以上全部
考题
在锻件探伤中出现草状回波的原因是由于晶粒粗大和树枝状结晶。
考题
锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？（）A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、迟到波D、以上全部
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现“林状（丛状）波”时，是由于（）A、工件中有小而密集缺陷B、工件材料中有局部晶粒粗大区域C、工件中有疏松缺陷D、以上都有可能
考题
在锻件探伤中，出现草状回波的原因主要是由于（）A、工件内有大缺陷B、灵敏度过高C、晶粒粗大和树枝状结晶
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（）A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部
考题
在锻件探伤中，出现草状回波的原因很有可能是由于（）A、工件内有大缺陷B、灵敏度过高C、晶粒粗大和树枝状结晶
考题
锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、缺陷形状和取向D、以上全部
考题
锻件接触法探伤中，如果探伤仪的“重复频率”调得过高，可能发生（）。A、 荧光屏“噪声”信号过高B、 时基线倾斜C、 始脉冲消失D、 容易出现“幻像波”
考题
锻件探伤时，（）会在荧光屏上产生非缺陷回波。A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、迟到波D、以上全部
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现“淋状波”是由于工件材料晶粒粗大。
考题
在轴件探伤中，出现草状回波的原因很有可能是由于（）。A、工件内有大缺陷B、灵敏度过高C、晶粒粗大和树枝状结晶D、以上都不对
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现“（）”是由于工件材料晶粒粗大。
考题
锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起什么现象？
考题
锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起（）A、底波降低或消失B、有较高的“噪声”显示C、使声波穿透力降低D、以上全部
考题
单选题锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起（）A
底波降低或消失B
有较高的“噪声”显示C
使声波穿透力降低D
以上全部
考题
单选题在锻件探伤中，出现草状回波的原因主要是由于（）A
工件内有大缺陷B
灵敏度过高C
晶粒粗大和树枝状结晶
考题
问答题锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起什么现象？
考题
单选题锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（）A
工件中有大面积倾斜缺陷B
工件材料晶粒粗大C
工件中有密集缺陷D
以上全部
考题
判断题在锻件探伤中出现草状回波的原因是由于晶粒粗大和树枝状结晶。A
对B
错
考题
单选题锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）A
边缘效应B
工件形状及外形轮廓C
缺陷形状和取向D
以上全部
考题
单选题锻件接触法探伤中，如果探伤仪的“重复频率”调得过高，可能发生（）。A
荧光屏“噪声”信号过高B
时基线倾斜C
始脉冲消失D
容易出现“幻像波”
考题
单选题在锻件探伤中，出现草状回波的原因很有可能是由于（）A
工件内有大缺陷B
灵敏度过高C
晶粒粗大和树枝状结晶
考题
单选题锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？（）A
边缘效应B
工件形状及外形轮廓C
迟到波D
以上全部