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综合致热型设备发热的原因可能包括（）。

  • A、电流效应
  • B、电磁效应
  • C、电压效应
  • D、热传导作用

参考答案

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考题 多数患者的发热是由致热原所致，致热原包括_____和______两大类。
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考题 表面温度判断法主要适用于电流致热型引起发热的设备。( )
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考题 依据红外热像检测细则管理规定，进行电力设备红外测温缺陷判别时，表面温度判断法主要适用于（ ）的设备。 电流致热型 $;$电磁效应引起发热 $;$电压致热型 $;$ 综合致热型
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考题 综合致热型设备发热的原因可能包括电流效应、电磁效应、电压效应。
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考题 红外热像检测表面温度判断法：主要适用于（）引起发热的设备。(A)电流致热型 (B)电压致热型 (C)电感效应 (D)电磁效应
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考题 红外热像检测图像特征判断法主要适用于电压致热型致热型设备。
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考题 红外测温相对温差判断法，主要适用于电流致热型设备。特别是对小负荷电流致热型设备，采用相对温差判断法可降低小负荷缺陷的漏判率。对电流致热型设备，发热点温升值小于15K时，不宜采用相对温差判断法。
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考题 红外热像检测中，图像特征判断法主要适用于（）电流致热型的设备$;$电磁效应引起发热的设备$;$综合致热型设备$;$电压致热型设备
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考题 红外检测表面温度判断法主要适用于电流致热型和电压效应引起发热的设备。
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考题 红外热像检测表面温度判断法：主要适用于( )引起发热的设备。电流致热型$;$电压致热型$;$电感效应$;$电磁效应
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考题 红外检测表面温度判断法主要适用于电流致热型和（ ）效应引起发热的设备。电压 $;$电磁 $;$涡流 $;$环流
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考题 红外热像检测温度相对温差判断法主要适用于( )设备。电流致热型$;$电压致热型$;$电磁致热型$;$电容致热型
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考题 红外热像检测，对电流致热型设备，发热点温升值小于15K时，宜采用相对温差判断法。
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考题 对于磁场和漏磁引起的过热可根据（ ）设备的判据进行处理。电流致热型 $;$电磁效应 $;$电压致热型 $;$综合致热型
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考题 红外热像检测中，图像特征判断法主要适用于( )(A)电流致热型的设备 (B)电磁效应引起发热的设备 (C)综合致热型设备 (D)电压致热型设备
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考题 红外热像检测温度相对温差判断法主要适用于( )设备。(A)电流致热型 (B)电压致热型 (C)电磁致热型 (D)电容致热型
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考题 依据红外热像检测细则管理规定，进行电力设备红外测温缺陷判别时，表面温度判断法主要适用于（）的设备。(A)电流致热型 (B)电磁效应引起发热 (C)电压致热型 (D)综合致热型
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考题 发热反应的主要原因是输入致热原。
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考题 脑出血灶吸收致发热（）。A、稽留热型B、弛张热型C、间歇热型D、持续低热E、波状热型
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考题 红外检测表面温度判断法主要适用于电流致热型和（）效应引起发热的设备。A、电压B、电磁C、涡流D、环流
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考题 红外热像检测判断方法中，（）主要适用于电流致热型设备。特别是对小负荷电流致热型设备，采用该法可降低小负荷缺陷的漏判率。对电流致热型设备，发热点温升值小于15K时，不宜采用该法。A、表面温度判断法B、同类比较判断法C、图像特征判断法D、相对温差判断法
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考题 红外热像检测表面温度判断法主要适用于（）引起发热的设备。A、电流致热型B、电磁效应C、电压致热型D、综合致热型
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考题 对于磁场和漏磁引起的过热可根据（）设备的判据进行处理。A、电流致热型B、电磁效应C、电压致热型D、综合致热型
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考题 红外热像检测图像特征判断法主要适用于（）致热型设备。A、电流致热型B、电磁效应C、电压致热型D、综合致热型
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考题 红外热像检测表面温度判断法主要适用于电压致热型；综合致热型引起发热的设备。
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考题 电流致热型设备反映设备的外部缺陷，电压致热型设备反映设备的内部缺陷。
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考题 电压致热型引起的发热可以反映设备的内部缺陷和外部缺陷，但是不包括以下哪一种缺陷（）A、接触电阻增大B、泄漏电流增大C、介损增大D、表面有裂纹
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