考题
属于THDS-A红外轴温探测系统内探功放板作用的是（）A、控制大门的开关B、控制热敏探头调制盘电机C、控制光子探头调制盘电机D、内探热靶的加热E、外探热靶的加热
考题
THDS-A红外轴温探测系统光子探头器件温度正常值范围是（）。A、（环温-50）±15℃B、（环温-50）±20℃C、（环温-50）±25℃D、（环温-50）±30℃
考题
（康拓）THDS-A系统光子探头调制盘频率正常值是3255±20Hz或3215±20Hz。
考题
THDS-A红外轴温探测系统探头按工作方式可划分为（）探头和直流探头。A、脉冲B、调制C、感应D、接触
考题
THDS-A红外轴温探测系统热靶标定曲线纵坐标为（）。A、探头输出电压B、热靶温度C、调制盘温度D、板温
考题
THDS-A红外轴温探测系统中功放板可以实现对下列（）部件的电源控制。A、光子探头B、热敏探头C、调制盘电机D、挡板电机E、热靶
考题
THDS-A红外轴温探测系统校零时候探头所探测的温度参考对象是（）A、挡板温度B、热靶温度C、调制盘温度D、环境温度
考题
THDS-A轴温探测系统中来自于光子探头内部的温度信号是（）A、环境温度B、热靶温度C、机柜温度D、调制盘温度
考题
THDS-A红外轴温探测系统测温板不对下列（）测量。A、调制盘温度B、器件温度C、车轴温度D、热靶温度
考题
THDS-A红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的（）控制的。A、测温板B、温控板C、调理板D、功放板
考题
THDS-A红外轴温探测系统校零板实现对两个（）校零的电路板。A、光子探头B、热敏探头C、热靶D、碲镉汞光子器件
考题
THDS-A红外轴温测系统光子探头器件温度正常值范围是（）。A、（环温-50）±15℃B、（环温-50）±20℃C、（环温-50）±25℃D、（环温-50）±30℃
考题
THDS-A轴温探测系统调制盘位于（）A、热靶大门组件B、扫描器下上盖C、扫描器下箱体D、光子探头内部
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统校零板实现对两个（）校零的电路板。A
光子探头B
热敏探头C
热靶D
碲镉汞光子器件
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统热靶标定曲线纵坐标为（）。A
探头输出电压B
热靶温度C
调制盘温度D
板温
考题
单选题THDS-A轴温探测系统调制盘位于（）A
热靶大门组件B
扫描器下上盖C
扫描器下箱体D
光子探头内部
考题
多选题属于THDS-A红外轴温探测系统内探功放板作用的是（）A控制大门的开关B控制热敏探头调制盘电机C控制光子探头调制盘电机D内探热靶的加热E外探热靶的加热
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统如果报盘温故障，现象是盘温-100℃，出现问题的部件中不可能包括（）A
光子探头B
测温板C
数字IO卡D
AD采集卡
考题
单选题THDS-A红外轴温测系统光子探头器件温度正常值范围是（）。A
（环温-50）±15℃B
（环温-50）±20℃C
（环温-50）±25℃D
（环温-50）±30℃
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统校零时候探头所探测的温度参考对象是（）A
挡板温度B
热靶温度C
调制盘温度D
环境温度
考题
单选题THDS-A轴温探测系统中来自于光子探头内部的温度信号是（）A
环境温度B
热靶温度C
机柜温度D
调制盘温度
考题
判断题（康拓）THDS-A系统光子探头调制盘频率正常值是3255±20Hz或3215±20Hz。A
对B
错
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统光子探头静态轴温正常值是（）。A
-5V±1VB
-4V±1VC
-5V±1、5VD
-5V±2V
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统探头按工作方式可分为（）探头和直流探头。A
脉冲B
调制C
感应D
接触
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统光子探头器件温度正常值范围是（）。A
（环温-50）±15℃B
（环温-50）±20℃C
（环温-50）±25℃D
（环温-50）±30℃
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统光子探头调制盘频率正常值是（）。A
3255±20Hz或3215±20HzB
3255±30Hz或3215±30HzC
3255±40Hz或3215±40HzD
3255±50Hz或3215±50Hz
考题
多选题THDS-A红外轴温探测系统中功放板可以实现对下列（）部件的电源控制。A光子探头B热敏探头C调制盘电机D挡板电机E热靶