考题
外径千分尺和校对量杆的工作面表面粗糙度Ra应不大于()。
A、0.04μmB、0.05μmC、0.10μm
考题
校对用量杆应该在卧式测长仪或测长机上用三等量块以（）检定，在工作面中心点进行3次读数，取（）作为量杆工作尺寸偏差。
考题
深度千分尺基座测量面的平面度不应大于（）；其深度千分尺的校对量具和尺寸偏差不超过（）。
考题
表盘刻度值为2μm，测量范围为0～25mm和25～50mm的杠杆千分尺，其测量时总误差不应大于（）μm；所用的校对量杆，其尺寸偏差不应超过（）μm。
考题
用扭簧比较仪检验工件的尺寸精度时，需用量块辅助测量，在检验工件平面的平面度时，（）辅助测量。A、需用千分尺B、需用千分表C、不需用量块D、需用量块
考题
孔径千分尺使用前要用（）校对零位。A、校对量杆B、校对环规C、校对塞规D、校对卡规
考题
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
千分尺校对用量杆如果检定结果出现平行度合格，单尺寸不合格的情况时是否还允许继续使用？
考题
测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
考题
对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
考题
量杆尺寸及测量面的平行度在光学计或测长机上采用4等量块以比较法测量，对于平面测量量杆采用（）。A、平面测帽B、球平测帽C、刀口形测帽
考题
简述内径千分尺校对卡规工作尺寸和两工作面平行度的检定方法？
考题
外径千分尺和校对量杆的工作面的表面粗糙洁度Ra应不大于（），壁厚和板厚千分尺工作面的Ra不大于（）。
考题
用量块检定千分尺测量面的平行度，应注意哪些问题？
考题
千分尺应附有调整零位的工具，测量上限小于25mm的千分尺应附有校对用的量杆。
考题
单选题量杆尺寸及测量面的平行度在光学计或测长机上采用4等量块以比较法测量，对于平面测量量杆采用（）。A
平面测帽B
球平测帽C
刀口形测帽
考题
填空题深度千分尺基座测量面的平面度不应大于（）；其深度千分尺的校对量具和尺寸偏差不超过（）。
考题
问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
问答题千分尺校对用量杆如果检定结果出现平行度合格，单尺寸不合格的情况时是否还允许继续使用？
考题
单选题千分尺的测量上限大于（）时须附有校对用的量杆A
15mmB
20mmC
25mmD
30mm
考题
填空题校对用量杆应该在卧式测长仪或测长机上用三等量块以（）检定，在工作面中心点进行3次读数，取（）作为量杆工作尺寸偏差。
考题
填空题外径千分尺测量面平行度，可以用平行平晶也可以用量块检定。但是在用量块检定时，应选择尺寸在杠杆千分尺测量上、下限之间的量块，其尺寸间隔为测杆的（）的四块量块。
考题
判断题千分尺校对用量杆的检定包括两项内容：量杆的尺寸和测量面的平面度。A
对B
错
考题
填空题外径千分尺和校对量杆的工作面的表面粗糙洁度Ra应不大于（），壁厚和板厚千分尺工作面的Ra不大于（）。
考题
问答题简述内径千分尺校对卡规工作尺寸和两工作面平行度的检定方法？
考题
问答题用量块检定千分尺测量面的平行度，应注意哪些问题？